РЕФЕРАТ 3
ВВЕДЕНИЕ 5
ОПРЕДЕЛЕНИЯ 7
1 Постановка задачи 9
2 Построение a,b-тестового множества 10
2.1 Построение a-тестов 10
2.2 Построение b-тестов 11
3.3 Нахождение корней уравнения D = 0 12
3.4 Получение a,b-тестового множества 15
3 Минимизация проверяющего теста на основе дерева разложения с учетом
перепадов сигналов 16
3. 1 Описание дерева разложения 16
3.2 Описание алгоритма 17
4 Удаление избыточных тестов 22
5 Доопределение неопределенных компонент 23
6 Полный алгоритм 23
7 Описание разработанной программы 24
8 Экспериментальные результаты 27
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 29
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ И ЛИТЕРАТУРЫ 30
ПРИЛОЖЕНИЕ A
ПРИЛОЖЕНИЕ Б
ПРИЛОЖЕНИЕ В
Тестирование интегральных схем необходимая процедура для корректной работы устройства. Сложность и скорость работы устройств постоянно растет, а их размер в свою очередь уменьшается, что приводит к увеличению требований к тестированию, в частности к самим тестам.
Одним из таких требований является компактность тестовой последовательности и полнота покрытия обнаруживаемых неисправностей. Компактность тестовой последовательности позволяет, как уменьшить занимаемый объем памяти, так и уменьшить время процесса тестирования. В свою очередь полнота покрытия обнаруживаемых неисправностей, позволяет не терять качества тестирования.
Также, в настоящее время к одному из таких требований можно отнести наличие, в тестовой последовательности, как можно более меньшего количества перепадов. Данное требование возникает при использовании метода скоростного сканирующего тестирования [1]. Данный метод подразумевает под собой проектирование интегральных схем, архитектура которых, направлена на облегчение тестирования. Другими словами, в схеме функциональные триггеры заменяются на сканирующие, которые могут работать в двух режимах:
а) функциональном режиме, работают так же как и функциональные триггеры;
б) режиме позволяющем загрузить в триггер тесты и так же захватить результаты теста.
При скоростном сканирующем тестировании возникает проблема с перегревом, что приводит к выходу из строя тестируемой интегральной схемы. Такое повышение температуры, во время тестирования, вызвано частыми перепадами напряжения. В свою очередь перепады напряжения вызваны перепадами в тестах [2]. Под перепадом понимается изменение значения одной из компонент двух булевых векторов, которые последовательно передаются интегральной схеме для ее тестирования.
Аналогичная проблема также рассматриваются в статье [3], в ней используется информация о пути распространения неисправностей в интегральной схеме.
В данной работе проблема рассматривается относительно системы безызбыточных ДНФ. Предлагается метод генерации тестовой последовательности, для a,b-неисправностей, системы безызбыточных ДНФ удовлетворяющий, выше описанным, требованиям к тестам.
В результате выполненной работы был разработан и реализован эвристический алгоритм построения минимизированного проверяющего теста системы безызбыточных ДНФ с учетом перепадов сигналов, включающий в себя:
а) синтез a,b-тестов минимального ранга, оставляющий возможность выбора, в случае синтеза связанной пары векторов, лучшего корня, что способствует уменьшению количества перепадов;
б) минимизация тестового множества использует особенности синтеза, описанного в пункте (а), для уменьшения количества перепадов в процессе минимизации. Все тесты полученные на этапе синтеза входят в минимизированное тестовое множество;
в) процесс доопределения неопределенных компонент минимизированного тестового множества, направлен на уменьшение количества перепадов.
