Программное моделирование и тестовый контроль цифровых радиоэлектронных устройств со сложной логикой работы

Содержание

1. Введение 3
2. Постановка задачи 5
3. История развития схемотехники 6
4. Современные методы тестирования радиоэлектронных устройств 9
5. Разработка моделей функционирования компонентов объекта контроля 12
5.1. 1533ЛА2 13
5.2. 556РТ7А 16
5.3. 1533ТМ2 19
5.4. 1533ИР23 22
5.5. КМ1802ВР4 25
6. Программное моделирование и написание теста сложного радиоэлектронного устройства Субблок H8.03.18.05 31
7. Выводы 36
8. Заключение 37
9. Литература 38

Введение

В связи со стремительным развитием технологий, современный человек уже не способен представить свою жизнь без различных технических устройств, которые он использует в повседневной жизни. Корректная работа многих приборов, будь то холодильник или компьютер, тесно пересекается с электроникой. Помимо сказанного, наряду с совершенствованием технических устройств, функциональная электроника проникает практически во все научные отрасли. Благодаря этому, в обозримом будущем мы сможем стать свидетелями того, как наборы функциональных микрокомпонентов будут управлять искусственными органами и таким образом решат проблему донорства. Также невозможно представить современную науку без развития электроники еще и потому, что любые научные исследования требуют громоздких и трудоемких расчетов. Отдельно хочется упомянуть применение электроники в космической отрасли, где необходимо не только смоделировать сами элементы, но и сделать их применимыми в условиях открытого космоса и на поверхности других небесных и космических тел.
Именно большой практической значимостью может быть объяснено столь бурное развитие системотехники. Наряду с усложнением современных цифровых устройств появилась острая необходимость в новом подходе к контролю и анализу каждого элемента, позволяющему применять комплексный подход к организации процессов технической диагностики. Для этого создаются и применяются системы автоматизированного проектирования тестов, развиваются и внедряются новые комплексы тестового контроля. Одной из таких систем является разработка СПбГУ «SimTest» [6, 7, 11, 13].
В данной работе рассмотрены основные принципы разработки программных моделей в «Quartus II», а также процесс создания тестов для отдельных микросхем и сложного цифрового радиоэлектронного устройства, с помощью системы «SimTest».

Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь в написании работ!

ДИПЛОМНЫЕ МАГИСТЕРСКИЕ ДИССЕРТАЦИИ

КУРСОВЫЕ СТАТЬИ ВКР

Заключение

В данной работе рассмотрена история развития схемотехники, а также описаны и проанализированы современные методы автоматического тестирования.
Описанные в работе алгоритмы написания программы для функционального тестирования были применены для создания программной модели и разработки тестовой последовательности для контроля работоспособности цифрового радиоэлектронного устройства Субблок H8.03.18.05.

Литература

1. Городецкий A. Снова о внутрисхемном тестировании ICT // Компоненты и технологии. 2011. №7. C. 58-59.
2. Holtzer M. In-circuit pin testing: An excellent potential source of value creation // SMT Surface Mount Technology Magazine, 2015, 30 (6). P. 68-71.
3. Renbi A., Delsing J. Application of Contactless Testing to PCBs with BGAs and Open Sockets // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (4). P. 339-347.
4. Renbi A., Delsing J. Contactless Testing of Circuit Interconnects // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (3). P. 229-253.
5. Thoulath Begam V. M., Baulkani S. Compact test set method for high fault coverage test pattern generation // International Journal of Applied Engineering Research, 2015, vol. 10, 55. P. 453-458.
6. Гришкин В. М., Лопаткин Г. C, Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей // Вопросы радиоэлектроники, серия ОТ. 2013. № 1. С. 80-88.
7. Степанов Ю. Л., Гришкин В. М., Большаков А. А., Лопаткин Г. C., Ким М. А. Автоматизированное построение тестов цифровых электронных модулей для комплекса тестового контроля и диагностики УТК-512 // Вопросы радиоэлектроники. 2012. Т. 1. № 1. С. 79-89.
8. Мащинский Н. С., Елаев Е. В., Федюкович П. А. Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования // Процессы управления и устойчивость. 2015. Т. 2. № 1. С. 452-457.
9. Елаев Е. В., Степанов Ю. Л., Ферсенков В. В. Подходы к моделированию микропроцессоров для построения контрольнодиагностических тестов // Процессы управления и устойчивость, 2015. Т. 2. № 1. С. 398-403.
10. Шахнова В. А. Микропроцессоры и микропроцессорные комплекты интегральных микросхем", том 2.
11. Гришкин В. М., Лопаткин Г. C, Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей // Вопросы радиоэлектроники, серия ОТ. 2013. № 1. С. 80-88.
12. Гусев О. А., Елаев Е. В., Мащинский Н. С., Нуракунов А. Автоматизация генерации тестовых воздействий для комбинационных цифровых схем // Процессы управления и устойчивость. 2016. Т. 3. № 1. С. 389-393.
13. Мельник В. И., Гришкин В. М., Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Методика разработки тест-программ контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР «SimTest» // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2013. № S (128). С. 118-124.
14. Елаев Е. В., Степанов Ю. Л., Ферсенков В. В. Подходы к моделированию микропроцессоров для построения контрольнодиагностических тестов // Процессы управления и устойчивость, 2015. Т. 2. № 1. С. 398-403