
Тип работы:	Предмет:	Язык работы:

Программное моделирование и тестовый контроль цифровых радиоэлектронных устройств со сложной логикой работы

Работа №	126058
Тип работы	Дипломные работы, ВКР
Предмет	модели данных
Объем работы	39
Год сдачи	2019
Стоимость	4650 руб.
ПУБЛИКУЕТСЯ ВПЕРВЫЕ
Просмотрено	65

Не подходит работа?

Узнай цену на написание

Содержание

1. Введение 3
2. Постановка задачи 5
3. История развития схемотехники 6
4. Современные методы тестирования радиоэлектронных устройств 9
5. Разработка моделей функционирования компонентов объекта контроля 12
5.1. 1533ЛА2 13
5.2. 556РТ7А 16
5.3. 1533ТМ2 19
5.4. 1533ИР23 22
5.5. КМ1802ВР4 25
6. Программное моделирование и написание теста сложного радиоэлектронного устройства Субблок H8.03.18.05 31
7. Выводы 36
8. Заключение 37
9. Литература 38

Введение

В связи со стремительным развитием технологий, современный человек уже не способен представить свою жизнь без различных технических устройств, которые он использует в повседневной жизни. Корректная работа многих приборов, будь то холодильник или компьютер, тесно пересекается с электроникой. Помимо сказанного, наряду с совершенствованием технических устройств, функциональная электроника проникает практически во все научные отрасли. Благодаря этому, в обозримом будущем мы сможем стать свидетелями того, как наборы функциональных микрокомпонентов будут управлять искусственными органами и таким образом решат проблему донорства. Также невозможно представить современную науку без развития электроники еще и потому, что любые научные исследования требуют громоздких и трудоемких расчетов. Отдельно хочется упомянуть применение электроники в космической отрасли, где необходимо не только смоделировать сами элементы, но и сделать их применимыми в условиях открытого космоса и на поверхности других небесных и космических тел.
Именно большой практической значимостью может быть объяснено столь бурное развитие системотехники. Наряду с усложнением современных цифровых устройств появилась острая необходимость в новом подходе к контролю и анализу каждого элемента, позволяющему применять комплексный подход к организации процессов технической диагностики. Для этого создаются и применяются системы автоматизированного проектирования тестов, развиваются и внедряются новые комплексы тестового контроля. Одной из таких систем является разработка СПбГУ «SimTest» [6, 7, 11, 13].
В данной работе рассмотрены основные принципы разработки программных моделей в «Quartus II», а также процесс создания тестов для отдельных микросхем и сложного цифрового радиоэлектронного устройства, с помощью системы «SimTest».

Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь студентам в написании работ!

ДИПЛОМНЫЕ МАГИСТЕРСКИЕ ДИССЕРТАЦИИ

Курсовые Статьи Диплом Рязань

Заключение

В данной работе рассмотрена история развития схемотехники, а также описаны и проанализированы современные методы автоматического тестирования.
Описанные в работе алгоритмы написания программы для функционального тестирования были применены для создания программной модели и разработки тестовой последовательности для контроля работоспособности цифрового радиоэлектронного устройства Субблок H8.03.18.05.

Литература

1. Городецкий A. Снова о внутрисхемном тестировании ICT // Компоненты и технологии. 2011. №7. C. 58-59.
2. Holtzer M. In-circuit pin testing: An excellent potential source of value creation // SMT Surface Mount Technology Magazine, 2015, 30 (6). P. 68-71.
3. Renbi A., Delsing J. Application of Contactless Testing to PCBs with BGAs and Open Sockets // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (4). P. 339-347.
4. Renbi A., Delsing J. Contactless Testing of Circuit Interconnects // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (3). P. 229-253.
5. Thoulath Begam V. M., Baulkani S. Compact test set method for high fault coverage test pattern generation // International Journal of Applied Engineering Research, 2015, vol. 10, 55. P. 453-458.
6. Гришкин В. М., Лопаткин Г. C, Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей // Вопросы радиоэлектроники, серия ОТ. 2013. № 1. С. 80-88.
7. Степанов Ю. Л., Гришкин В. М., Большаков А. А., Лопаткин Г. C., Ким М. А. Автоматизированное построение тестов цифровых электронных модулей для комплекса тестового контроля и диагностики УТК-512 // Вопросы радиоэлектроники. 2012. Т. 1. № 1. С. 79-89.
8. Мащинский Н. С., Елаев Е. В., Федюкович П. А. Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования // Процессы управления и устойчивость. 2015. Т. 2. № 1. С. 452-457.
9. Елаев Е. В., Степанов Ю. Л., Ферсенков В. В. Подходы к моделированию микропроцессоров для построения контрольнодиагностических тестов // Процессы управления и устойчивость, 2015. Т. 2. № 1. С. 398-403.
10. Шахнова В. А. Микропроцессоры и микропроцессорные комплекты интегральных микросхем", том 2.
11. Гришкин В. М., Лопаткин Г. C, Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей // Вопросы радиоэлектроники, серия ОТ. 2013. № 1. С. 80-88.
12. Гусев О. А., Елаев Е. В., Мащинский Н. С., Нуракунов А. Автоматизация генерации тестовых воздействий для комбинационных цифровых схем // Процессы управления и устойчивость. 2016. Т. 3. № 1. С. 389-393.
13. Мельник В. И., Гришкин В. М., Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Методика разработки тест-программ контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР «SimTest» // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2013. № S (128). С. 118-124.
14. Елаев Е. В., Степанов Ю. Л., Ферсенков В. В. Подходы к моделированию микропроцессоров для построения контрольнодиагностических тестов // Процессы управления и устойчивость, 2015. Т. 2. № 1. С. 398-403