Тема: Эмуляция радиоэлектронных устройств и их тестирование

[1] Отраслевой стандарт ОСТ4 ГО.303.000, 1972. Узлы и блоки ра-диоэлектронной аппаратуры. Методы составления контрольных тестов цифровых узлов.
[2] Отраслевой стандарт ОСТ4 ГО.303.001, 1973. Узлы и блоки ра-диоэлектронной аппаратуры. Методика диагностики цифровых узлов.
[3] Государственный стандарт ГОСТ Р 55692-2013: МОДУЛИ ЭЛЕКТРОННЫЕ. Методы составления и отладки тест-программ
[4] Государственный стандарт ГОСТ 2091-89: Техническая диагно¬стика термины и определения.
[5] Патент RU 2475821 C1 от 20.02.2013г., МПК G06F11/22, G05B23/00 Способ предварительной оценки качества диагностических тестов
[6] Надежность и эффективность в технике. Справочник в 10 т. т.9. Техническая диагностика. Под ред. В.В.Клюева, М.: Машиностроение, 1987, с.177-178.
[7] Поляков А.К. Языки VHDL и VERILOG в проектировании циф¬ровой аппаратуры. - М., СОЛОН-Пресс, 2003.
[8] Шило В.Л. Популярные цифровые микросхемы. Справочник. М.: “Радио и связь”, 1987.
[9] Петровский И.И., Прибыльский А.В., Троян А.А. и др. Логиче¬ские ИС КР1533, КР1554 часть 1, часть 2. Справочник. М.: Бином, 1993.
[10] Опадчий Ю.Ф. Общая технология проектирования в среде Quartus II. Методические указания по курсу "Схемотехническое проек¬тирование ЭВС".
[11] Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits. New York, Boston, Dordrecht, London, Moscow. Kluwer Academic Publishers, 2000.
[12] Елаев Е.В. / Интерфейсный метод автоматизированной генерации тестовых воздействий для цифровых радиоэлектронных объектов кон¬троля // Вестник Санкт-Петербургского государственного университета технологии и дизайна. Серия 1: Естественные и технические науки. 2015. № 4. С. 19-24.
[13] Мащинский Н.С., Елаев Е.В., Федюкович П.А. / Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования // Процессы управления и устойчивость. 2015. Т. 2. № 1. С. 452-457.
[14] Grishkin V., Yelaev Y., Lopatkin G., Mikhailov A., Ovsyannikov D. / Interface method of digital devices testing // Tenth International Vacuum Electron Sources Conference (IVESC) & Second International Conference on Emission Electronics (ICEE) 2014. С. 107-108.
[15] Melnik V.I., Mikhailov A.N., Grishkin V.M., Ovsyannikov D.A., Yelaev Y.V. / Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices // 2014 International conference on computer technologies in physi¬cal and engineering applications (ICCTPEA) Editor: E. I. Veremey. Санкт- Петербургский государственный университет; IEEE (IEEE Catalog number CFP14BDA-USB). 2014. С. 112-113.
[16] Мельник В., Гришкин В., Михайлов А., Овсянников Д. / Мето-дика разработки тест-программ контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР SimTest // Электроника: Наука, тех¬нология, бизнес. 2013. № S (128). С. 118-124.
[17] Михайлов А., Мельник В., Овсянников Д. / Тестовый контроль и диагностика радиоэлектронной аппаратуры // Электроника: Наука, тех¬нология, бизнес. 2013. № S (128). С. 114-117.
[18] Степанов Ю.Л., Гришкин В.М., Лопаткин Г.С., Большаков А.А., Ким М.А. / Автоматизированное построение тестов цифровых элек-тронных модулей для комплекса тестового контроля и диагностики УТК-512. // Вопросы радиоэлектроники, сер. Общетехническая, 2012, вып.1, с.79-89.
[19] Гришкин В.М., Степанов Ю.Л., Лопаткин Г.С., Большаков А.А. /
Подход к разработке тестов цифровых электронных модулей для авто¬матического тестового оборудования //Вопросы радиоэлектроники. 2013. Т. 1. № 1. С. 89-99.

Купить