🔍 Поиск готовых работ

🔍 Поиск работ

Влияние внешних факторов на сбоеустойчивость микроконтроллера на основе ARMv7

Работа №198289

Тип работы

Дипломные работы, ВКР

Предмет

физика

Объем работы40
Год сдачи2023
Стоимость4700 руб.
ПУБЛИКУЕТСЯ ВПЕРВЫЕ
Просмотрено
15
Не подходит работа?

Узнай цену на написание


Введение 5
1. Тактирование микроконтроллера и ионизирующее излучение 7
1.1. Блок PLL 7
1.2. Встроенный RC - генератор 11
1.3. Воздействие импульсного ионизирующего излучения 15
1.4. Воздействие ионизирующего излучения на микроконтроллер 20
1.4.1. Реакции микроконтроллера при воздействии ИИ 20
1.4.2. Влияние схем тактирования на работу МК 24
2. Объект и методика исследования 30
2.1. Образец 30
2.2. Схема включения МК 32
3. Эксперимент 33
3.1. Исполняемая МК программа 33
3.2. Результаты исследования и их анализ 33
Заключение 35
Список литературы 36
Приложение 39

Электронные устройства находят широкое применение в различных сферах деятельности человека. На работу электронных компонентов оказывают влияние множество факторов. Одним из важнейших факторов является воздействие ионизирующего излучения (ИИ).
Развитие микроэлектроники направлено на увеличение быстродействия, повышение функциональной сложности изделий и снижение энергопотребления. Для этих целей разрабатываются новые технологические процессы. При уменьшении размера технологических норм элементов микросхем увеличивается их чувствительность к ИИ. Поэтому проблема обеспечения радиационной стойкости элементов интегральных микросхем за последние годы стала одной из самых главных среди комплекса других проблем, связанных с проектированием высоконадёжной и стабильной электронной аппаратуры. Таким образом, при создании устройств, эксплуатация которых происходит в повышенном радиационном фоне, необходимо иметь представление о радиационной стойкости различных компонентов данного устройства. Это обуславливает актуальность работы.
Микроконтроллеры состоят из большого количества блоков и являются сложным электронным компонентом. Механизмы сбоев при воздействии ИИ на разные блоки совершенно различны. Один из таких блоков - это блок формирования тактовой частоты. Воздействие на него ИИ приводит к изменению тактовой частоты и при повышении мощности дозы приводит к зависанию микроконтроллера (МК).
Цель работы:
Исследование реакции МК на внешнее дестабилизирующее воздействие при различной конфигурации системы тактирования.
Для достижения поставленной цели необходимо решение следующих задач:
1. подготовить аналитический обзор по влиянию внешних факторов на
сбоеустойчивость МК;
2. изучить теоретические сведения о радиационных эффектах;
3. провести эксперимент с МК при внешнем воздействии;
4. проанализировать результаты эксперимента.
Практическая значимость результатов исследования заключается в определении режимов работы МК, чувствительных к внешнему воздействию и выявлении реакции приводящей к сбою. Предположения основанные на данном исследовании могут дать информацию о том как избежать данной реакции и разработать методы парирования.


Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь в написании работ!


Подготовив аналитический обзор по влиянию внешних факторов на сбоеустойчивость МК и изучив теоретические сведения о радиационных эффектах, я могу сказать, что при воздействии ионизирующего излучения на МК с тактированием от внутреннего RC - генератора, изменяется его тактовая частота, так как конденсатор чувствителен к изменениям напряжения.
После проведения эксперимента и анализа данных, я пришёл к выводу, что при работе на высоких частотах МК, RC - генератор не успевает вернуться к рабочим параметрам за один цикл, новая частота поступает на ФД, где и происходит зависание, так как ФД не может синхронизироваться с данной частотой.
Таким образом, можно предположить, что при максимальной частоте тактирования от внутреннего RC - генератора в связке с PLL есть высокая вероятность зависаний МК при воздействии ионизирующего излучения.


1. Спецификация микроконтроллеров серии 1986ВЕ9х - URL:
https://hamlab.net/uploads/datasheets/stm32 milandr ru.pdf (дата
обращения: 23.05.2023). - Текст: электронный.
2. Шуленков Р. А. Тактирование, синхронизация и ФАПЧ процессора / Р.
А. Шуленков. - Текст: непосредственный // Автоматический контроль и автоматизация производственных процессов: материалы
Международной научно-технической конференции, 22-24 октября 2015 года, Минск. -БГТУ, 2015. - С. 9-15.
3. Пигарев Л.А. Микропроцессорные системы автоматического управления : учебное пособие / Л.А. Пигарев. - Санкт-Петербург: СПбГАУ, 2017. - 178 с. - Текст: непосредственный.
4. Голуб В. Несколько слов о системе ФАПЧ / В. Голуб. - Текст: непосредственный // Компоненты и технологии. - 2003. - №8. - С. 9296.
5. Евстифеев А.В. Микроконтроллеры AVR семейств Tiny и Mega фирмы Atmel / А.В. Евстифеев. - Москва: Издательский дом «Додэка-XXI», 2010. - 560 с. - Текст: непосредственный.
6. Микушин А.В. Схемо- и системотехника электронных средств : учебное пособие для СПО / А.В. Микушин, В.И. Сединин. - Саратов: Профобразование, 2021. - 322 c. - Текст: непосредственный.
7. AVR053: Calibration of the internal RC oscillator - URL:
https://www.microchip.com/en-us (дата обращения: 20.04.2023). - Текст: электронный.
8. Радиационная стойкость изделий ЭКБ: научное издание / [А. И.
Чумаков и др.] ; под ред. А. И. Чумакова; Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ". - Москва, 2015. - 512 С.
9. Pilipenko A.S. Hang features of microcontroller exposed by pulsed ionizing radiation / A.S. Pilipenko, M.I. Tikhonov // Microelectronics Reliability (article in press). - 2023. - С. 13.
10. Пилипенко А.С. Применение средств трассировки для анализа сбоев
микроконтроллера, возникающих при воздействии нейтронов с энергией 14 МэВ / А.С. Пилипенко, М.И. Тихонов. - Текст:
непосредственный // Радиотехника и электроника (отправлена в печать). - 2023. - С. 12.
11. Степовика А.П. Влияние радиочастотного и ионизирующего излучения на микроконтроллер ATmega8515 / А.П. Степовика, В.В. Отставнова, Е.Ю. Шамаева. - Текст: непосредственный // Журнал технической физики. - 2019. - № 3. С. 444-451.
12. Исследование радиационной стойкости микроконтроллера 1986BE8T /
Н. Кравченко, П. Некрасов, Д. Бойченко [и др.]. - Текст:
непосредственный // Радиационная стойкость электронных систем - Стойкость 2018. - 2018. - С. 160-162.
13. Влияние частоты тактирования на уровень бессбойной работы микропроцессора и микроконтроллера при импульсном ионизирующем воздействии / Д. Костюченко, О. Калашников В. Марфин [и др.]. - Текст: непосредственный // Радиационная стойкость электронных систем - Стойкость 2017. - 2017. - С. 188 - 189.
14. Зависимость уровня бессбойной работы от тактовой частоты и напряжения питания современного СБИС процессора / К. Москаленко, В. Марфин, О. Калашников [и др.]. - Текст: непосредственный // Радиационная стойкость электронных систем - Стойкость 2018. - 2018. - С. 180-181.
15. He W. Ring Oscillator under Laser: Potential of PLL based Countermeasure against Laser Fault Injection / W.He, J. Breier, S. Bhasin // Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography. - 2016. - С. 12....16


Работу высылаем на протяжении 30 минут после оплаты.




©2025 Cервис помощи студентам в выполнении работ