
Тип работы:	Предмет:	Язык работы:

Моделирование и тестирование радиоэлектронных устройств

Работа №	125778
Тип работы	Бакалаврская работа
Предмет	теория систем управления
Объем работы	32
Год сдачи	2017
Стоимость	4750 руб.
ПУБЛИКУЕТСЯ ВПЕРВЫЕ
Просмотрено	92

Не подходит работа?

Узнай цену на написание

Содержание

Введение 3
Постановка задачи 5
История развития схемотехники 6
Современные методы тестирования радиоэлектронных устройств 7
Алгоритм создания программной модели и написание теста для основных классов цифровых микросхем 10
1533ЛА2 10
1533ИД3 13
1533ТМ2 16
1533ИР23 19
1533ИЕ7 22
Программное моделирование и написание теста сложного радиоэлектронного устройства Субблок ПЭ3 25
Выводы 28
Заключение 29
Литература 30

Введение

Сейчас сложно представить наше существование без технических устройств, которые окружают нас в повседневной жизни. Все вокруг, к чему мы так сильно привыкли, будь то чайник или телефон, так или иначе связано с электроникой. Функциональная электроника пересекается со многими научными отраслями. Благодаря ее развитию, не за горами те времена, когда наборы функциональных микрокомпонентов смогут автоматически управлять искусственными органами: сердцем, почками, желудком, что, безусловно, сделает прорыв в медицине. Наука не стоит на месте и современные исследования требуют огромных вычислительных мощностей, которые невозможны без развития электроники. Отдельно стоит отметить электронику для космических аппаратов: необходимо не просто спроектировать элементы, но и сделать их пригодными для работы в экстремальных условиях.
Именно поэтому так стремительно развивается схемотехника. И если раньше тестированием на этапе производства можно было заниматься вручную, то вместе со стремительным развитием сложных цифровых устройств возникает необходимость в системном и комплексном подходе к организации процессов технической диагностики, анализа и контроля каждого отдельного элемента и устройства в целом. Для этого создаются и используются системы автоматизированного проектирования тестов, развиваются, совершенствуются и внедряются новые комплексы тестового контроля. Одной из таких систем является разработка СПбГУ «SimTest», которая принимает на входе структуру объекта контроля (ОК), описания алгоритма работы его компонентов, а также тестовые воздействия. На основе этой информации формируется полная модель устройства, генерируются последовательности входных воздействий и реакции ОК.
В данной работе рассмотрены основные принципы разработки программных моделей в «Quartus II», а также создание тестов для отдельных микросхем и сложного цифрового радиоэлектронного устройства, с использованием системы «SimTest».

Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь студентам в написании работ!

ДИПЛОМНЫЕ МАГИСТЕРСКИЕ ДИССЕРТАЦИИ

Курсовые Статьи Диплом Рязань

Заключение

В данной работе рассмотрена история развития схемотехники, а также описаны и проанализированы современные методы автоматического тестирования.
Описанные в работе алгоритмы написания программы для функционального тестирования были применены для создания программной модели и разработки тестовой последовательности для контроля работоспособности цифрового радиоэлектронного устройства Субблок ПЭ3.

Литература

1. Городецкий A. Снова о внутрисхемном тестировании ICT // Компоненты и технологии. 2011. №7. C. 58-59.
2. Albee A. J. The evolution of ICT: PCB technologies, test philosophies, and manufacturing business models are driving in-Circuit test evolution and innovations // IPC APEX EXPO Conference and Exhibition 2013, 1. P. 381-401.
3. Holtzer M. In-circuit pin testing: An excellent potential source of value creation // SMT Surface Mount Technology Magazine, 2015, 30 (6). P. 68-71.
4. Renbi A., Delsing J. Application of Contactless Testing to PCBs with BGAs and Open Sockets // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (4). P. 339-347.
5. Renbi A., Delsing J. Contactless Testing of Circuit Interconnects // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (3). P. 229-253.
6. Thoulath Begam V. M., Baulkani S. Compact test set method for high fault coverage test pattern generation // International Journal of Applied Engineering Research, 2015, vol. 10, 55. P. 453-458.
7. Елаев Е. В. Интерфейсный метод автоматизированной генерации тестовых воздействий для цифровых радиоэлектронных объектов контроля // Вестник Санкт- Петербургского государственного университета технологии и дизайна. Серия 1: Естественные и технические науки. 2015. № 4. С. 19-24.
8. Sangi R., Baranski M., Oltmanns J., Streblow R., Muller D. Modeling and simulation of the heating circuit of a multi-functional building // Energy and Buildings, 2016, 110. P. 13-22
9. Fujita M., Taguchi N., Iwata K., Mishchenko A. Incremental ATPG methods for multiple faults under multiple fault models // Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, 2015, art. no. 7085420. P. 177-180.
10. Kochte M. A., Elm M. b , Wunderlich H.-J. Accurate X- propagation for test applications by SAT-based reasoning // IEEE Transactions on ComputerAided Design of Integrated Circuits and Systems, 2012, vol. 31, 12, art. no. 6349431. P. 1908-1919.
11. Гришкин В. М., Лопаткин Г. C, Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей // Вопросы радиоэлектроники, серия ОТ. 2013. № 1. С. 80-88.
12. Гусев О. А., Елаев Е. В., Мащинский Н. С., Нуракунов А. Автоматизация генерации тестовых воздействий для комбинационных цифровых схем // Процессы управления и устойчивость. 2016. Т. 3. № 1. С. 389-393.
13. Мельник В. И., Гришкин В. М., Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Методика разработки тест-программ контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР «SimTest» // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2013. № S (128). С. 118-124.
14. Елаев Е. В., Степанов Ю. Л., Ферсенков В. В. Подходы к моделированию микропроцессоров для построения контрольно- диагностических тестов // Процессы управления и устойчивость, 2015. Т. 2. № 1. С. 398-403
15. Мащинский Н. С., Елаев Е. В., Федюкович П. А. Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования // Процессы управления и устойчивость. 2015. Т. 2. № 1. С. 452-457.
...