Моделирование и тестирование радиоэлектронных устройств

Содержание

Введение 3
Постановка задачи 5
История развития схемотехники 6
Современные методы тестирования радиоэлектронных устройств 7
Алгоритм создания программной модели и написание теста для основных классов цифровых микросхем 10
1533ЛА2 10
1533ИД3 13
1533ТМ2 16
1533ИР23 19
1533ИЕ7 22
Программное моделирование и написание теста сложного радиоэлектронного устройства Субблок ПЭ3 25
Выводы 28
Заключение 29
Литература 30

Введение

Сейчас сложно представить наше существование без технических устройств, которые окружают нас в повседневной жизни. Все вокруг, к чему мы так сильно привыкли, будь то чайник или телефон, так или иначе связано с электроникой. Функциональная электроника пересекается со многими научными отраслями. Благодаря ее развитию, не за горами те времена, когда наборы функциональных микрокомпонентов смогут автоматически управлять искусственными органами: сердцем, почками, желудком, что, безусловно, сделает прорыв в медицине. Наука не стоит на месте и современные исследования требуют огромных вычислительных мощностей, которые невозможны без развития электроники. Отдельно стоит отметить электронику для космических аппаратов: необходимо не просто спроектировать элементы, но и сделать их пригодными для работы в экстремальных условиях.
Именно поэтому так стремительно развивается схемотехника. И если раньше тестированием на этапе производства можно было заниматься вручную, то вместе со стремительным развитием сложных цифровых устройств возникает необходимость в системном и комплексном подходе к организации процессов технической диагностики, анализа и контроля каждого отдельного элемента и устройства в целом. Для этого создаются и используются системы автоматизированного проектирования тестов, развиваются, совершенствуются и внедряются новые комплексы тестового контроля. Одной из таких систем является разработка СПбГУ «SimTest», которая принимает на входе структуру объекта контроля (ОК), описания алгоритма работы его компонентов, а также тестовые воздействия. На основе этой информации формируется полная модель устройства, генерируются последовательности входных воздействий и реакции ОК.
В данной работе рассмотрены основные принципы разработки программных моделей в «Quartus II», а также создание тестов для отдельных микросхем и сложного цифрового радиоэлектронного устройства, с использованием системы «SimTest».

Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь в написании работ!

ДИПЛОМНЫЕ МАГИСТЕРСКИЕ ДИССЕРТАЦИИ

КУРСОВЫЕ СТАТЬИ ВКР

Заключение

В данной работе рассмотрена история развития схемотехники, а также описаны и проанализированы современные методы автоматического тестирования.
Описанные в работе алгоритмы написания программы для функционального тестирования были применены для создания программной модели и разработки тестовой последовательности для контроля работоспособности цифрового радиоэлектронного устройства Субблок ПЭ3.

Литература

1. Городецкий A. Снова о внутрисхемном тестировании ICT // Компоненты и технологии. 2011. №7. C. 58-59.
2. Albee A. J. The evolution of ICT: PCB technologies, test philosophies, and manufacturing business models are driving in-Circuit test evolution and innovations // IPC APEX EXPO Conference and Exhibition 2013, 1. P. 381-401.
3. Holtzer M. In-circuit pin testing: An excellent potential source of value creation // SMT Surface Mount Technology Magazine, 2015, 30 (6). P. 68-71.
4. Renbi A., Delsing J. Application of Contactless Testing to PCBs with BGAs and Open Sockets // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (4). P. 339-347.
5. Renbi A., Delsing J. Contactless Testing of Circuit Interconnects // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (3). P. 229-253.
6. Thoulath Begam V. M., Baulkani S. Compact test set method for high fault coverage test pattern generation // International Journal of Applied Engineering Research, 2015, vol. 10, 55. P. 453-458.
7. Елаев Е. В. Интерфейсный метод автоматизированной генерации тестовых воздействий для цифровых радиоэлектронных объектов контроля // Вестник Санкт- Петербургского государственного университета технологии и дизайна. Серия 1: Естественные и технические науки. 2015. № 4. С. 19-24.
8. Sangi R., Baranski M., Oltmanns J., Streblow R., Muller D. Modeling and simulation of the heating circuit of a multi-functional building // Energy and Buildings, 2016, 110. P. 13-22
9. Fujita M., Taguchi N., Iwata K., Mishchenko A. Incremental ATPG methods for multiple faults under multiple fault models // Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, 2015, art. no. 7085420. P. 177-180.
10. Kochte M. A., Elm M. b , Wunderlich H.-J. Accurate X- propagation for test applications by SAT-based reasoning // IEEE Transactions on ComputerAided Design of Integrated Circuits and Systems, 2012, vol. 31, 12, art. no. 6349431. P. 1908-1919.
11. Гришкин В. М., Лопаткин Г. C, Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей // Вопросы радиоэлектроники, серия ОТ. 2013. № 1. С. 80-88.
12. Гусев О. А., Елаев Е. В., Мащинский Н. С., Нуракунов А. Автоматизация генерации тестовых воздействий для комбинационных цифровых схем // Процессы управления и устойчивость. 2016. Т. 3. № 1. С. 389-393.
13. Мельник В. И., Гришкин В. М., Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Методика разработки тест-программ контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР «SimTest» // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2013. № S (128). С. 118-124.
14. Елаев Е. В., Степанов Ю. Л., Ферсенков В. В. Подходы к моделированию микропроцессоров для построения контрольно- диагностических тестов // Процессы управления и устойчивость, 2015. Т. 2. № 1. С. 398-403
15. Мащинский Н. С., Елаев Е. В., Федюкович П. А. Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования // Процессы управления и устойчивость. 2015. Т. 2. № 1. С. 452-457.
...