Тема: Моделирование и тестирование радиоэлектронных устройств

1. Городецкий A. Снова о внутрисхемном тестировании ICT // Компоненты и технологии. 2011. №7. C. 58-59.
2. Albee A. J. The evolution of ICT: PCB technologies, test philosophies, and manufacturing business models are driving in-Circuit test evolution and innovations // IPC APEX EXPO Conference and Exhibition 2013, 1. P. 381-401.
3. Holtzer M. In-circuit pin testing: An excellent potential source of value creation // SMT Surface Mount Technology Magazine, 2015, 30 (6). P. 68-71.
4. Renbi A., Delsing J. Application of Contactless Testing to PCBs with BGAs and Open Sockets // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (4). P. 339-347.
5. Renbi A., Delsing J. Contactless Testing of Circuit Interconnects // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2015, 31 (3). P. 229-253.
6. Thoulath Begam V. M., Baulkani S. Compact test set method for high fault coverage test pattern generation // International Journal of Applied Engineering Research, 2015, vol. 10, 55. P. 453-458.
7. Елаев Е. В. Интерфейсный метод автоматизированной генерации тестовых воздействий для цифровых радиоэлектронных объектов контроля // Вестник Санкт- Петербургского государственного университета технологии и дизайна. Серия 1: Естественные и технические науки. 2015. № 4. С. 19-24.
8. Sangi R., Baranski M., Oltmanns J., Streblow R., Muller D. Modeling and simulation of the heating circuit of a multi-functional building // Energy and Buildings, 2016, 110. P. 13-22
9. Fujita M., Taguchi N., Iwata K., Mishchenko A. Incremental ATPG methods for multiple faults under multiple fault models // Proceedings - International Symposium on Quality Electronic Design, 2015, art. no. 7085420. P. 177-180.
10. Kochte M. A., Elm M. b , Wunderlich H.-J. Accurate X- propagation for test applications by SAT-based reasoning // IEEE Transactions on ComputerAided Design of Integrated Circuits and Systems, 2012, vol. 31, 12, art. no. 6349431. P. 1908-1919.
11. Гришкин В. М., Лопаткин Г. C, Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей // Вопросы радиоэлектроники, серия ОТ. 2013. № 1. С. 80-88.
12. Гусев О. А., Елаев Е. В., Мащинский Н. С., Нуракунов А. Автоматизация генерации тестовых воздействий для комбинационных цифровых схем // Процессы управления и устойчивость. 2016. Т. 3. № 1. С. 389-393.
13. Мельник В. И., Гришкин В. М., Михайлов А. Н., Овсянников Д. А. Методика разработки тест-программ контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР «SimTest» // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2013. № S (128). С. 118-124.
14. Елаев Е. В., Степанов Ю. Л., Ферсенков В. В. Подходы к моделированию микропроцессоров для построения контрольно- диагностических тестов // Процессы управления и устойчивость, 2015. Т. 2. № 1. С. 398-403
15. Мащинский Н. С., Елаев Е. В., Федюкович П. А. Моделирование сложных цифровых устройств с целью их тестирования // Процессы управления и устойчивость. 2015. Т. 2. № 1. С. 452-457.
...
Купить