Тип работы:
Предмет:
Язык работы:


Субволновое пространственное разрешение в ближнепольной оптической микроскопии

Работа №37781

Тип работы

Дипломные работы, ВКР

Предмет

физика

Объем работы23
Год сдачи2019
Стоимость4900 руб.
ПУБЛИКУЕТСЯ ВПЕРВЫЕ
Просмотрено
346
Не подходит работа?

Узнай цену на написание


Введение 3
1.1. Угловое спектральное представление оптических полей 5
1.2. Угловое спектральное представление поля диполя 8
2. Передача изображения из ближней зоны в дальнюю 9
3. Многофункциональный аналитический комплекс ИНТЕГРА СПЕКТРА . 15
4. Результаты 18
Заключение 22
Список литературы 23

Одной из основных задач современной оптики является создание методов и приборов для исследования объектов с субволновым пространственным разрешением. Так как пространственное разрешение обычных рамановских микроскопов ограничено дифракционным пределом, они не позволяют производить измерения с разрешением выше 250 нм.
Исследование структур с более высоким пространственным разрешением обычно сводится к использованию, например, атомно-силовых микроскопов, но они не позволяют провести химический анализ структур. Объединяя методы ближнепольной микроскопии и рамановского анализа, мы получаем одновременно и высокое пространственное разрешение, и возможность химической идентификации структуры. В настоящей работе мы разберемся, как устроен принцип передачи информации из ближней зоны в дальнюю, от каких параметров зависит субволновое пространственное разрешение и как добавить высокого разрешения.
Целью нашей работы является формирование оптического изображения, передаваемого из ближней зоны в дальнюю, на примере углеродной нанотрубки. В процессе проведения эксперимента использовалась атомно-силовая микроскопия и раман-спектроскопия для решения следующих задач:
- Построение изображения субволновых структур с помощью атомно-силовой микроскопии, совмещенной с рамановским анализом;
- Раман-картирования многостенной углеродной трубки, находящейся на кремниевой подложке;
- Регистрация конфокального оптического изображения при условии, что лазерный пучок и кантилевер смещены друг относительно друга для лучшей визуализации вкладов со стороны оптического поля и кантилевера.

Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь студентам в написании работ!


В настоящее работе мы получили оптическое изображение, передаваемое из ближней зоны в дальнюю, на примере углеродной нанотрубки. В процессе проведения эксперимента использовалась атомносиловая микроскопия и раман-спектроскопия. Были решены следующие задачи:
- Построили изображения субволновых структур с помощью атомно-силовой микроскопии, совмещенной с рамановским анализом;
- Провели раман-картирование многостенной углеродной трубки, находящейся на кремниевой подложке;
- Зарегистрировали конфокальное оптическое изображение при условии, что лазерный пучок и кантилевер смещены друг относительно друга для лучшей визуализации вкладов со стороны оптического поля и кантилевера.


1. Новотный Лукас, Хехт Берт Основы нанооптики Пер. с англ. / Под ред. В.В. Самарцева - М. Физматлит, 2009.
2. Sheppard С, Hotton /А, Shotton D. Confocal Laser Scanning Microscopy. - New Yark BIOS Scientific Publishers, 1997.
3. Kino G. S., Corle I R. Confocal scanning optical microscopy and related imaging systems. - Academic Press, 1996.
4. Greffet J. Carminati R. Image formation in near-field optics //Progress in surface science. - 1997. - T. 56. -№. 3. - C. 133-237.
5. Novotny L., Hecht B., Pohl D. W. Implications of high resolution to near-field optical microscopy //Ultramicroscopy. - 1998. - T. 71. - №. 1-4. - C. 341-344.
6. Hecht B. et al. Facts and artifacts in near-field optical microscopy //Journal of Applied Physics. - 1997. - T. 81. - №. 6. - C. 2492-2498.
7. Xia Y., Whitesides G. M. Soft lithography //Annual review of materials science. - 1998.-T. 28. - №. l.-C. 153-184.
8. Ramos R., Gordon M. J. Reflection-mode, confocal, tip-enhanced Raman spectroscopy system for scanning chemical microscopy of surfaces //Review of Scientific Instruments. - 2012. - T. 83. - №. 9. - C. 093706.
9. Hecht B. et al. Facts and artifacts in near-field optical microscopy //Journal of Applied Physics. - 1997. - T. 81. - №. 6. - C. 2492-2498.
10. Харинцев C.C. Методическое пособие «Плазмонная микроскопия высокого разрешения» - 2015.

Работу высылаем на протяжении 30 минут после оплаты.




©2024 Cервис помощи студентам в выполнении работ