Тема: ЛОКАЛЬНАЯ КВАЗИОПТИЧЕСКАЯ РЕЗОНАТОРНАЯ ДИАГНОСТИКА ЛИСТОВЫХ ОБРАЗЦОВ
Закажите новую по вашим требованиям
Представленный материал является образцом учебного исследования, примером структуры и содержания учебного исследования по заявленной теме. Размещён исключительно в информационных и ознакомительных целях.
Workspay.ru оказывает информационные услуги по сбору, обработке и структурированию материалов в соответствии с требованиями заказчика.
Размещение материала не означает публикацию произведения впервые и не предполагает передачу исключительных авторских прав третьим лицам.
Материал не предназначен для дословной сдачи в образовательные организации и требует самостоятельной переработки с соблюдением законодательства Российской Федерации об авторском праве и принципов академической добросовестности.
Авторские права на исходные материалы принадлежат их законным правообладателям. В случае возникновения вопросов, связанных с размещённым материалом, просим направить обращение через форму обратной связи.
📋 Содержание
1 Методы измерения параметров материалов и объектов на СВЧ 9
1.1 Методы с использованием объемных резонаторов 11
1.2 Методы с использованием открытых резонаторов 12
1.3 Диагностика плоских объектов через отверстие в зеркале открытого
резонатора 14
1.4 Фокусировка электромагнитных волн диэлектрическими объектами .. 19
2 Численное моделирование и экспериментальное исследование
распределения электромагнитных полей за отверстием рефлектометра 24
2.1 Численное моделирование распределения электромагнитных полей за
отверстием в идеально проводящей плоскости конечной толщины 25
2.2 Экспериментальное исследование распределения электромагнитных
полей за отверстием в зеркале ОР рефлектометра 27
2.3 Сопоставление измерений коэффициента отражения резонаторным
методом и методом коаксиальной ячейки 36
2.4 Измерение распределения коэффициента отражения по плоскости
образца композитного материала 41
Список использованных источников и литературы 61
Приложение А Отчет о патентных исследованиях 66
Приложение Б Листинг программы управления механизмом перемещения зонда 76
📖 Введение
Если образец представляет собой плоскопараллельный слой, то для измерений, как правило, используются методы свободного пространства [1].
Однако данные методы требуют подготовленных образцов с достаточно большими по сравнению с длиной волны размерами.
Повысить локальность измерений модуля и фазы коэффициента отражения, а также расширить диапазон измеряемых значений позволяет метод, основанный на использовании квазиоптического резонаторного рефлектометра [2,3]. Метод основан на измерении коэффициента передачи на резонансной частоте открытого резонатора, в одном из отражателей которого имеется отверстие, за которым располагается исследуемый объект.
Целью работы является оптимизация размеров измерительного отверстия рефлектометра для абсолютного измерения коэффициента отражения плоскопараллельных образцов, а также исследование возможности повышения разрешающей способности рефлектометра для обнаружения малых неоднородностей материала.
Для достижения данной цели необходимо решить следующие задачи:
1. Аналитический обзор литературных источников;
2. Провести численное моделирование и экспериментальное исследование распределений электромагнитных полей за отверстием в зеркале открытого резонатора;
3. Сопоставить измерения коэффициента отражения резонаторным методом и волноводным методом с применением коаксиальной ячейки;
4. Провести численное моделирование и экспериментальное исследование распределений электромагнитных полей за измерительным отверстием в присутствии фокусирующего объекта и металлической плоскости (измерительного стола);
5. Провести оценку разрешающей способности рефлектометра в присутствии/отсутствии фокусирующего объекта;
6. Обобщить результаты НИР, составить текст диссертации.
Объект исследования: процессы распространения электромагнитных волн за отверстием в зеркале открытого резонатора.
Методы исследования: резонаторный метод измерения электромагнитных характеристик.
Предмет исследования: открытый квазиоптический резонатор.
Положения, выносимые на защиту (ПВЗ) диссертантом:
1) Для квазиоптического резонаторного рефлектометра на основе открытого резонатора с параметрами близкими к конфокальному (L = 53 см, R = 120 см), в диапазоне 8 - 12 ГГц наиболее оптимальным с точки зрения однородности поля является квадратное измерительное отверстие со стороной 1,3Х; при этом расхождение результатов измерений в сравнении с коаксиальным методом не превышает 5%, уменьшение стороны до 1,2Х не приводит к увеличению расхождения, увеличение стороны до 1,7Х ведет к увеличению расхождения до 30%.
2) Использование фокусирующего параллелепипеда с размерами 1,3х1,3х1,6Х в квазиоптическом резонаторном рефлектометре на основе открытого резонатора с параметрами близкими к конфокальному (L = 53 см, R = 120 см), позволяет повысить его пространственную разрешающую способность и различать неоднородности с масштабом менее 0,5Х.
Обоснование достоверности ПВЗ:
Достоверность защищаемых положений достигается применением известных и апробированных методов исследования; непротиворечивостью и согласованностью результатов, полученных экспериментальными методами с результатами моделирования распределения электромагнитных полей за отверстием в зеркале открытого резонатора в программном продукте CST Microwave Studio ©.
Достоверность экспериментально полученных данных подтверждается использованием поверенного оборудования с аттестованными методиками измерения ЦКП «Центр радиоизмерений ТГУ», аккредитованного на техническую компетентность.
Обоснование новизны ПВЗ:
Впервые найдены условия оптимального сочетания геометрических размеров отверстия открытого резонатора для измерения коэффициентов отражения плоскопараллельных материалов в диапазоне частот от 8,7 до 11,7 ГГц.
Впервые применен диэлектрический объект в виде параллелепипеда, формирующий фотонную струю в резонаторном рефлектометре СВЧ диапазона. Впервые показана возможность фиксации им неоднородностей материала с масштабом меньше Х/2.
Обоснование практической значимости ПВЗ:
Полученные результаты можно применять при создании и оптимизации рефлектометров на базе открытых резонаторов.
Апробация работы:
Результаты работы были доложены на всероссийских и международных конференциях, опубликованы в сборниках:
1 Dorofeev I.O. Local quasioptical resonator diagnostics of semiconductor wafers / Dorofeev I.O., Dunaevskii G.E., Badin A.V., Dorozhkin K.V., Bessonov V., Khodovitskiy S.O. // MATEC Web of Conferences 155. 2018.
2 Поцелуева А.А. Исследование коэффициента отражения композитных материалов на основе многостенных углеродных нанотрубок / А.А. Поцелуева, С.О Ходовицкий // Научный потенциал молодежи и технический прогресс: труды I Международной студенческой научно - практической конференции. Россия, Санкт-Петербург, 11 мая 2018 г. -
Санкт-Петербургский филиал Научно-исследовательского «Машиностроение», 2018. С. 118- 119.
3 Ходовицкий С.О. Локальная резонаторная диагностика плоскопараллельных образцов / С.О. Ходовицкий, И.О. Дорофеев // Труды XV Всероссийской конференции студенческих научно -исследовательских инкубаторов. Россия, Томск, 17 - 18 мая 2018 г.
4 Ходовицкий С.О. Исследование распределения электромагнитного поля за отверстием резонаторного рефлектометра / IV Международный научно-технический форум «Современные технологии в науке образования» (СТНО-2021). Россия, Рязань, 3 - 5 марта 2021 г.



