📄Работа №7969

Тема: Исследование перехода диффузионной стадии в топокинетическую

📝
Тип работы Курсовые работы
📚
Предмет механика
📄
Объем: 27 стр. листов
📅
Год: 2003
👁️
Просмотров: 1111
Не подходит эта работа?
Закажите новую по вашим требованиям
Узнать цену на написание
ℹ️ Настоящий учебно-методический информационный материал размещён в ознакомительных и исследовательских целях и представляет собой пример учебного исследования. Не является готовым научным трудом и требует самостоятельной переработки.

📋 Содержание

Введение
ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ

1.1. Модель плазмохимического травления
1.2. Требования к рабочим газам
1.3. Классификация реакционных газов
1.4. Реакторные системы
1.5. Основные параметры ПХТ
1.5.1. Скорость
1.5.2. Селективность

1.5.3. Анизотропия
1.5.4. Равномерность

1.5.5. Температура
1.5.6. Легирование
1.5.7. Реакторные материалы
Литература
ПРИЛОЖЕНИЕ

Техника безопасности
Устройство и работа установки

📖 Введение

Хорошо известно о широком применении плазменной обработки материалов в промышленной микроэлектроники. Плазму низкого давления используют для травления топологических элементов микронных размеров при изготовлении микросхем и дискретных полупроводниковых приборов, а так же различных сенсоров и микромеханических устройств. За рубежом устройства, создаваемые в результате совместного применения технологий микроэлектроники и микропрофелирования кремния, получили название микроэлектромеханических систем, и, соответственно, сама технология кратко обозначается как МЕМS - технология (наиболее развитое направление в области микросистемной техники). Эта технология позволяет создавать микроприборы и функционально интегрированные микросхемы с интегрированными микромеханическими структурами, применение которых наиболее перспективно в электронно-вычислительных устройствах, оптоэлектронике, а также в сенсорных микроэлектронных системах регулирования и управления.
Известно, что эффективность ПХТ характеризуется такими важными параметрами, как анизотропность и скорость травления. Сравнительно высокие анизотропность и скорость травления – результат хорошего подбора типа установки, рабочих реагентов и режима процесса. При таком развитии ПХТ можно с успехом использовать для решения таких задач, как удаление фоторезиста, травление эпитаксиальных пленок и глубинное профилирование полупроводниковых пластин для целей микромеханики.
Следует так же учитывать процесс, который позволил бы исключить контактирование с едкими растворами щелочей и кислот, а так же растворителями в случае удаления уже не нужной маски с поверхности подложки, т.к. эти вещества, особенно щелочи и кислоты, очень неблагоприятно воздействуют на поверхностные элементы и могут вывести их из строя, либо привести к деградации их характеристик.
Согласно с многочисленными исследованиями скорость ПХТ в диффузионной области напрямую зависит от доставки ХАЧ (химически активных частиц) и скорости диффузии к поверхности подложки, концентрации и распределения свободных радикалов атомов у поверхности. Лимитирующей стадией является доставка свободных атомов и радикалов. В топокинетической же области главную роль играют: суммарная площадь поверхности пластин, температура и ионное облучение. Лимитирующая стадия – химическая реакция между свободными атомами (радикалами) и поверхностными атомами материала.
Целью настоящей работы является исследование перехода диффузионной стадии в топокинетическую, что позволит глубже понять процесс ПХТ и найти такие параметры реакции, при которых скорость травления кремниевых пластин будет оптимальной.


Возникли сложности?

Нужна качественная помощь преподавателя?

👨‍🎓 Помощь в написании
Нужна своя уникальная работа?
Срочная разработка под ваши требования
Рассчитать стоимость
ИЛИ

📕 Список литературы

1) J.Pelletier and M.J.Cooke: Microwave plasma etching of Si and SiO2, J.Vac.Sci.Technol.B, vol.7, №1, 1989, p. 59-67;
2) B.Petit and J.Pelletier, Rev.Phys.Appl, №21, 1986, p. 337;
3) C.Pomot, B.Mahi, J.Pelletier, J.Vac.Sci.Technol.B, vol.4, №1, 1986;
4) Р.Гиллеспи, И.Харгиттон, Модель отталкивания электронных пар валентной оболочки и строение молекул.- М: Мир, 1992, с.356;
5) Г.Пиментел, Р.Спратли, Как квантовая механика объясняет химические связи.-М: Мир, 1978, с.258;
6) Е.С.Фролов, Вакуумная техника, - М: Машиностроение, 1992;
7) Б.С.Данилин, В.Ю.Киреев, Травление материалов в галогеносодержащей газоразрядной плазме, //Электронная техника, сер.3, Микроэлектроника, 1976, Вып. 2(62), стр.58-67;
8) M.Chem, I.Batra, Chemosorption Steadies of the Silicon (111) Surface, J.Vacuum Sci.Technol., 1979, vol.16, №2, p.615-617;
9) G.C.Schwartz and P.M.Schaible, J.Vacuum Sci.Technol., 1979, p.16410;
10) A.Reinberg, Proc. symp. on etching, J.Electrochem. Soc., 1989, p.91;
11) B.Chapman, Glow Discharge Processes, New York: Wiley, 1980;
12) J.A.Mucha and D.W.Hess, Plasma etching, American Chemical Society, 1983, p.215;
13) P.S.Ganguli and M.Kaufman, Chem. Phys. Lett, №25, 1974, p.221;
14) M.S.Naidu and A.N.Prasad, J.Phys., D 5, 1972, p.983;



🛒 Оформить заказ

Работу высылаем в течении 5 минут после оплаты.

©2026 Cервис помощи студентам в выполнении работ