ВВЕДЕНИЕ 4
РАЗДЕЛ 1 ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ 6
1.1 Наноразмерные углеродные покрытия. Структура, свойства, применение 6
1.2 Влияние легирования на свойства наноразмерных углеродныхпокрытий . 8
1.3 Импульсный вакуумно-дуговой методполучения покрытий 13
1.4 Внутренние напряжения в тонких покрытиях 15
1.5 Влияние отжига на свойства тонких покрытий 18
1.6 Постановка задачи исследования 21
РАЗДЕЛ 2 ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ 23
2.1. Методики исследования структуры и свойств наноразмерных углеродных покрытий 23
2.1.1 Получение тестовых образцов 23
2.1.2 Методика отжига покрытий 24
2.1.3 Методика определения структуры покрытий 25
2.1.4 Методика определения морфологии поверхности покрытий 25
2.1.5 Методика определения электросопротивления покрытий 25
2.1.6 Методика определения шероховатости поверхности покрытий 26
2.1.7. Методика определения величины внутренних напряжений в наноразмерных углеродных покрытиях. Лазерно-оптический метод измерения радиуса кривизны прогиба системы «покрытие - подложка» 26
2.1.8 Методика определения трещиностойкости покрытий 28
РАЗДЕЛ 3 РЕЗУЛЬТАТЫ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ И ИХ АНАЛИЗ 30
3.1 Результаты исследования структуры покрытий 30
3.2 Результаты исследования морфологии поверхности 30
3.3 Результаты исследования величины электросопротивления покрытий ... 31
3.4 Результаты исследования шероховатости поверхности покрытий 31
3.5 Результаты исследования трещиностойкости покрытий 32
3.6 Результаты исследования величины внутренних напряжений в покрытиях 32
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 35
Наноразмерныеуглеродные покрытия пользуются популярностью в различных отраслях промышленности. По своей твердости они лишь немного уступают алмазу и обладают схожими с ним уникальными механическими, трибологическими и электрическими свойствами,что делает подобные покрытияперспективным материалом для использованияв таких отраслях как металлообработка, аэрокосмическая промышленность, медицина, микромеханика и т.д.
Главным недостатком всех углеродных покрытий являются аномально высокие внутренние напряжения, которые возникают в результате осаждения покрытия на подложку. Величина их может быть 10 ГПа и более.Высокие внутренние напряжения могут привести к изгибу подложки, а также их растрескиванию и отслаиванию покрытия от подложки. Одним из часто применяемых способов снижения внутренних напряжений является отжиг системы «покрытие-подложка», который может их частично снижать или полностью устранять. Однако важно учитывать, что при отжиге в атмосфере воздуха термостойкость алмазоподобных покрытий не превышает350 - 400 °С, что связывают с его окислением.Окисление происходит в определенных местах и приводит к уменьшению толщины покрытия.
Легируя углеродные покрытия можно влиять на их свойства, что значительно расширяет сферы использования такого типа покрытия. В данной работе объектом исследования являютсянаноразмерные углеродные покрытия легированные вольфрамом. Основной целью легирования является повышение термостойкости покрытия. Покрытия такого типа часто используются в металообработке алюминиевых сплавов. Они обладают прекрасной износостойкостью даже при высоких температурах.
Покрытияосаждались с использованием импульсного вакуумно-дугового метода. Одной из положительных особенностейимпульсного вакуумно-дугового метода является получение плазмы большой плотности, а также возможность контролировать температурный режим на подложке, что также способствует уменьшению величины внутренних напряжений.
Целью данной работы является исследования влияние отжига на величину внутренних напряжений в наноразмерных углеродных покрытиях.
1. После отжига наноразмерных углеродных покрытий покрытий легированных вольфрамом при температуре 450°C графитизации не
происходит.
2. Отжиг уменьшает количество макрочастицна поверхности покрытия, что связано с их испарением.
3. Электросопротивление постепенно увеличивается с увеличением температуры отжига, что связано с испарением макрочастиц не алмазоподобной фазы.
4. Шероховатость поверхности имеет параболическую зависимость с минимумомзначения при отжиге на 250 °C, что связано с испарением макрочастиц с поверхности покрытия.
5. Трещиностойкость уменьшается постепенно с увеличением температуры отжига. Этот эффект мы связываем с уменьшением величины внутренних напряжений сжатия.
6. С увеличением температуры отжига, величина внутренних напряжений уменьшается, что связано с уменьшением дефектности покрытия.
7. Оптимальная температура отжига наноразмерных алмазоподобных покрытий легированных вольфрамом составляет 250 °C.
1. Алмазоподобные пленки углерода: обзор. инф. сер.
Монокристаллы и особо чистые вещества / Э.Ф. Чайковский, В.М. Пузиков, А.В. Семенов. - М.: НИИТЭХИМ, 1985. - 365 с.
2. Алмаз: Справочник / Д.В. Федосеев [и др.]. - Киев.: Наукова думка, 1981. - 78с.
3. Novoselov K.S. [et al.] Electric field effect in atomically thin carbon films // Science. 2004. Vol. 306. P. 666-669.
4. Новоселов К.С., Морозов С.В., Гейм А.К. Электронный транспорт в графене // УФН. 2008. Т. 178, №7. С. 776-780.
5. Соколов В.И., Вуль А.Я. Исследование наноуглерода в России: от фуллеренов к нанотрубкам и наноалмазам // Российские нанотехнологии. 2007. Т. 2, №3-4. С. 17-30.
6. Ивановский А.Л., Ивановская В.В.// Алмазоподобные углеродные
наноматериалы: моделирование структуры и свойств // Российские
нанотехнологии. 2007. Т. 2, №9-10. С. 12-27.
7. Смирнов Б.М., Елецкий А.В. Фуллерены и структуры углерода // УФН. 1995. Т. 165, №9. С. 977-1009.
8. Robertson J. Diamond-like amorphous carbon // Materials Science and Engineering R. 2002. Vol. 37. P. 129-281.
9. Новиков Н.Д. [и др.] Структура сверхтонких пленок линейно-цепочечного углерода // Вестник Московского университета. Серия 3. Физика. Астрономия. 2002. №2. С. 57-60.
10. Lifshitz Y. Diamond-like carbon - present status // Diamond and Related Materials. 1999. Vol. 8. P. 1659-1676.
11. McKenzie D.R. Tetrahedral bonding in amorphous carbon // Rep. Prog. Phys. 1996. N.59. P. 1611-1664.
12. Cheng Y.H., Tay B.K., Lau S.P., Shi X. Influence of substrate bias on the structure and mechanical properties of ta-C:W films deposited by filtered cathodic vacuum arc // Surface and Coatings Technology. - 2001. - V. 146-147. - P. 398-404.
13. Ferrari A.C., Robertson J. Interpretation of Raman spectra of disordered and amorphous carbon // Phys. Rev. B. - 2000. - V. 61 (20). - P. 14095 - 14107.
14. Tay B.K., Shi X., Tan H.S., Yang H.S., Sun Z. Raman studies of tetrahedral amorphous carbon films deposited by filtered cathodic vacuum arc // Surface and Coatings Technology. - 1998. - V. 105. - P. 155-158.
15. Lifshitz Y., Lempert G.D., Rotter S. et al .The effect of ion energy on the diamond-like/graphitic (sp3/sp 2) nature of carbon films deposited by ion beams // Diamond and Related Materials. - 1994. - V. 3. - P. 542-546.
16. Lifshitz Y., Lempert G.D., Grossman E. Substantiation of Subplantation Model for Diamondlike Film Growth by Atomic Force Microscopy // Phys. Rev. Lett. - 1994. - V. 27(17). - P. 2753-2757.
17. Robertson J. The deposition mechanism of diamond-like a-C and a- C:H // Diamond and Related Materials.- 1994. - V. 3. - P. 361-368.
18. Chen X., Peng Zh., Fu Zh., Wu S., Yue W., Wang Ch. Microstructural, mechanical and tribological properties of tungsten-gradually doped diamond-like carbon films with functionally graded interlayers // Surface & Coatings Technology. - 2011. - V. 205. - P. 3631-3638.
19. Wang Ai-Ying, Lee Kwang-Ryeol, Ahn Jae-Pyoung, Han Jun Hee. Structure and mechanical properties of W incorporated diamond-like carbon films prepared by a hybrid ion beam deposition technique // Carbon. - 2006. - V. 44.- P. 1826-1832.
20. Monteiroa O.R., Delplancke-Ogletree M.-P., Brown I.G. Tungsten- containing amorphous carbon flms deposited by pulsed vacuum arc // Thin Solid Films. - 1999. - V. 342. - P. 100-107.
21. Gharam A.A., Lukitsch M.J., Balogh M.P., Irish N.,. Alpas A.T. High temperature tribological behavior of W-DLC against aluminum // Surface & Coatings Technology.- 2011. - V. 206. - P. 1905-1912.
22. Kroger H., Ronning C., Hofsass H., Neumaier P., Bergmaier A., Gorgens L., Dollinger G.. Diffusion in diamond-like carbon // Diamond and Related Materials.- 2003. - V. 12. - P. 2042-2050.
23. Колпаков А.Я., Поплавский А.И., Галкина М.Е., Суджанская И.В., Гончаров И.Ю., Дручинина О.А., Стригунов Н.В., Харченко В.А., Мерчанский О.Ю. Свойства наноразмерных углеродных покрытий, легированных азотом, вольфрамом и алюминием, полученных импульсным вакуумно-дуговым методом // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5. - № 3-4. - С. 11-14.
24. А.Я. Колпаков, А.И. Поплавский, М.Е. Галкина, И.В. Суджанская, И.Ю. Гончаров,О.А. Дручинина, Н.В. Стригунов, В.А. Харченко, О.Ю. Мерчанский. Свойства наноразмерных углеродных покрытий легированных азотом, вольфрамом и алюминием, полученных импульсным вакуумно-дуговым.
25. Чайковский Э.Ф., Пузиков В.М., Семенов А.В. Алмазоподобные пленки углерода / Обзор. инф. сер. «Монокристаллы и особо чистые вещества». - М.: НИИТЭХИМ, 1985, 365 с.
26. Алмаз: справочник / Федосеев Д.В., Новиков Н.В., Вишневский А.С - Киев: Наукова думка, 1981. - 78 с.
27. Вуль А.Я. Исследование наноуглерода в России: от фуллеренов к нанотрубкам и наноалмазам // Российские нанотехнологии. - 2007. - Т. 2. - №3-4. - С. 17-30.
28. Ивановская В.В. Алмазоподобные углеродные наноматериалы: моделирование структуры и свойств // Российские нанотехнологии. - 2007. - Т. 2. - №9-10. - С. 12-27.
29. Елецкий А.В. Фуллерены и структуры углерода // УФН. - 1995. - Т. 165. - №9. - С. 977-1009.
30. Олевский С.С. и др. Особенности структуры и химического состава алмазоподобных углеродных пленок // Поверхность. Физика, химия, механика. - 1982. - №7. - С. 118-125.
31. Чайковский Э.Ф., Пузиков В.М., Семенов А.В. Алмазоподобные пленки углерода // Обзор.инф.Сер.Монокристаллы и особо чистые вещества. - НИИТЭХИМ., 1985.
32. Лахтин Ю.М., Леонтьева В.П. Материаловедение: Учебник для высших технических учебных заведений. - М.: Машиностроение, 1990.- 528
33. Кирсанов В.В. Радиационные дефекты и связанные с ними эффекты // Соросовский образовательный журнал. - 2001- Т.7. - №10. -C.88- 94.
34. Новиков И.И. Теория термической обработки металлов. - М.: Металлургия, 1978, 386 с.
35. Кирсанов В.В. Атомные механизмы диффузии // Соросовский образовательный журнал. - Т.7. - №9. - 2001. - С.103-108.
36. Gaskell P.H. et al. Neutron-scattering studies of the structure of highly tetrahedral amorphous diamondlike carbon // Phys.Rev. Lett. - 1991. - Vol. 67. - P. 1286-1289.
37. Orwa J.O., Andrienko I., Peng J.L., Prawer S. Thermally induced sp2 clustering in tetrahedral amorphous carbon (ta-C) films // Journal of Applied Physics. - V. 96. - N.11. - P.6286-6297.
38. McCulloch D.G., Peng J.L., McKezie D.R., Lau S.P., Sheeja D., Tay B.K. Mechanism for the behavior of carbon films during anneling // Physical Review B. - V. 79. - id.085406.
39. Tay B.K., Shi X., Cheah L.K. and Flynn D.I. Growth conditions and properties of tetrahedral amorphous carbon films // Thin Solid Films. - 1997. - V.308-309. - Issue 1-2. - 1997. - P. 217-222.
40. Friedman T.A., Sullivan J.P., Knapp J.A., Tallant D.R., Follstaedt
D. R., Meldin D.L., Mirakimi P.B. Thick stress-free amorphous-tetrahedral carbon films with hardness near that of diamond // Appl. Phys. Lett. - 1997. - V.71 (26) - P.3820-3822.
41. Friedman T.A. US Patent № 6103 305.
42. N. Nawachi, A. Yamamoto et al., Etching mask properties of diamond-like carbon films. - New Diamond and Frontier Carbon Technology v.15 (2005) p. 13.
43. Griffith A.A. // The phenomena of rupture and of the flow in solids. Phil. Trans.Roy. Soc. Ser. A. 1921. V. 221. P. 163-198.