Введение 4
Глава 1. Основы сканирующей микроскопии ближнего поля 6
1.1 Зонды для сканирующей микроскопии ближнего поля 6
1.2 Принцип работы сканирующего микроскопа ближнего поля 13
1.3 Процесс локализации света в апертурном зонде 18
1.4 Фотоиндуцированные поверхностные деформации светочувствительных азополимеров 21
Глава 2. Исследование поверхностных деформаций фоточувствительного азополимера под действием оптических ближних полей.
2.1 Численное моделирование оптических ближних полей под СБОМ-зондом
2.2 Методы и объекты исследования
2.3 Получение поверхностных деформаций для сфокусированных гауссовых
пучков высших порядков
Результаты и выводы
Заключение
Литература 25
Сканирующая микроскопия ближнего поля (СБОМ, англ. Scanning nearfield microscopy, SNOM/NSOM) - экспериментальная техника, созданная в 80-х годах прошлого века. Это первая экспериментальная оптическая техника, работающая в видимом диапазоне, позволившая преодолеть дифракционный предел. В настоящее время, с развитием оптоволоконных технологий, сканирующая микроскопия ближнего поля переживает новый всплеск популярности. Так, апертурные зонды - неотъемлемая часть сканирующего микроскопа ближнего поля - находит применение в качестве биосенсоров[1], в составе интегральной оптики [2] и квантовых коммуникационных сетей [3].
Одной из важнейших задач современной фотоники и спектроскопии является анализ и управление поляризацией оптических ближних полей в апертурных зондах. Знание о поляризационных свойствах ближнего поля позволяет управлять светом за пределами дифракции. В свою очередь, это открывает новые возможности в дизайне наноразмерных оптических устройств, как энергонезависимая память повышенной емкости [4] и интегральные оптические чипы [5]. Также, контроль и управление поляризацией ближнего поля в сканирующей микроскопии ближнего поля (SNOM/NSOM) и спектроскопии гигантского комбинационного рассеяния (TERS) позволяет детектировать молекулярные ориентации в исследуемых образцах [6], производить спектроскопические исследования одиночных молекул [7] и визуализировать объекты в видимом диапазоне за пределом дифракции света
[8] . Контроль поляризации ближнего поля открывает путь к развитию 3D поляризационной TERS микроскопии [9] и флуоресцентной микроскопии ближнего поля [10], что уже находит применение в физических [11], биологических [12], и химических областях исследования [13].
На данный момент техники поляризационного анализа ближних полей активно разрабатываются. Поскольку свойства как апертурных, так и безапертурных зондов зависят от их геометрических параметров и материалов, необходим простой метод для параметриции ближнего поля этих антенн. Так, например, для определения поляризации ближнего поля у безапертурных зондов применяются фоточувствительные азо-полимеры [14, 15], а также исследование колебания плазмонного диполя посредствам Релеевского рассеяния [16].
В данной работе мы предлагаем метод по визуализации поляризации ближнего поля апертурного зонда посредством фотоиндуцированных поверхностных деформаций фотохромных азо-полимерных пленок.
В данной работе был продемонстрирован метод визуализации оптических полей в сканирующей микроскопии ближнего поля с помощью фоточувствительных азополимеров. Это недорогой и легкий метод для параметризации ближнего поля апертурных зондов. Знание о поляризации ближнего поля помогает раскрыть потенциал сканирующей микроскопии ближнего поля на различные приложения, где требуется исходные данные о поляризационных свойствах света. Так же, в ходе исследования, было обнаружено, что свет, проходя через оптоволокно, изменяет свою поляризацию. Это может быть следствием наличия механических напряжений в оптоволокне, которые являются побочным продуктом производства оптоволокна методом вытягивания.