Помощь студентам в учебе
ВЛИЯНИЕ ОКИСЛЕНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ РАДИОТЕХНИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ НА ХАРАКТЕРИСТИКИ НАДЕЖНОСТИ РАДИОЭЛЕКТРОННОГО ОБОРУДОВАНИЯ
|
Введение 7
1 АНАЛИЗ СОВРЕМЕННОГО СОСТОЯНИЯ МАТЕМАТИЧЕСКОГО
И ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ НАДЕЖНОСТИ РАДИОЭЛЕКТРОННОГО ОБОРУДОВАНИЯ И ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ В УСЛОВИЯХ ДЛИТЕЛЬНОЙ ЭКСПЛУАТАЦИИ 13
2 ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ МОДЕЛИРОВАНИЯ ПРОЦЕССОВ ОКИСЛЕНИЯ МЕТАЛЛОВ В КОРПУСЕ ЭЛЕКТРОННОГО ПРИБОРА.
МЕТОДЫ ЕЕ РЕШЕНИЯ 43
2.1 Моделирование двумерных температурных полей в электронном
приборе 46
2.1.1 Общая физическая постановка 46
2.1.2 Математическая постановка 50
2.1.3 Метод решения 52
2.2 Моделирование двумерных температурных полей в проводнике
круглого поперечного сечения 56
2.2.1 Физическая постановка 56
2.2.2 Математическая постановка 56
2.3 Тестирование математических моделей и методов решения 62
2.4 Постановка задачи моделирования процессов окисления
металлических проводников 65
2.4.1 Физико-химические процессы окисления металлов в РЭА 65
2.4.2 Механизмы и кинетика коррозии алюминиевой металлизации
в электролите 67
2.4.3 Кинетика окисления металла (меди и алюминия) кислородом... 71
3 ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ОКИСЛЕНИЯ МЕТАЛЛОВ
ЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ И ИЗМЕНЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ 76
3.1 Численная оценка характеристик надежности стабилизатора
напряжения в условиях термического окисления токоведущих элементов 76
3.2 Влияние окисления медного проводника круглого сечения на
параметры, характеризующие надежность электронной схемы 90
3.3 Численное моделирование влияния окисления алюминиевой
металлизации кислородом на надежность интегральной схемы 99
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 115
Список литературы 117
1 АНАЛИЗ СОВРЕМЕННОГО СОСТОЯНИЯ МАТЕМАТИЧЕСКОГО
И ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ НАДЕЖНОСТИ РАДИОЭЛЕКТРОННОГО ОБОРУДОВАНИЯ И ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ В УСЛОВИЯХ ДЛИТЕЛЬНОЙ ЭКСПЛУАТАЦИИ 13
2 ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ МОДЕЛИРОВАНИЯ ПРОЦЕССОВ ОКИСЛЕНИЯ МЕТАЛЛОВ В КОРПУСЕ ЭЛЕКТРОННОГО ПРИБОРА.
МЕТОДЫ ЕЕ РЕШЕНИЯ 43
2.1 Моделирование двумерных температурных полей в электронном
приборе 46
2.1.1 Общая физическая постановка 46
2.1.2 Математическая постановка 50
2.1.3 Метод решения 52
2.2 Моделирование двумерных температурных полей в проводнике
круглого поперечного сечения 56
2.2.1 Физическая постановка 56
2.2.2 Математическая постановка 56
2.3 Тестирование математических моделей и методов решения 62
2.4 Постановка задачи моделирования процессов окисления
металлических проводников 65
2.4.1 Физико-химические процессы окисления металлов в РЭА 65
2.4.2 Механизмы и кинетика коррозии алюминиевой металлизации
в электролите 67
2.4.3 Кинетика окисления металла (меди и алюминия) кислородом... 71
3 ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ОКИСЛЕНИЯ МЕТАЛЛОВ
ЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ И ИЗМЕНЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ 76
3.1 Численная оценка характеристик надежности стабилизатора
напряжения в условиях термического окисления токоведущих элементов 76
3.2 Влияние окисления медного проводника круглого сечения на
параметры, характеризующие надежность электронной схемы 90
3.3 Численное моделирование влияния окисления алюминиевой
металлизации кислородом на надежность интегральной схемы 99
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 115
Список литературы 117
Прогнозированию надежности элементов радиоэлектронного оборудования (РЭО) и электронной техники (ЭТ) уделяется все больше внимания в связи с увеличением тепловых и механических нагрузок на радиотехнические материалы (РТМ) и изделия, неотъемлемой частью которых такие материалы являются, в процессе их функционирования [1-23]. Такие нагрузки являются объективным следствием интеграции процессов переноса электрических зарядов в малых по размерам радиоэлектронных элементах.
В настоящее время модели прогнозирования надежности изделий радиоэлектроники основываются преимущественно на результатах статистического анализа ускоренных испытаний групп изделий [24-26]. Опытные образцы испытывают под действием различных факторов (повышенных температур, напряжения питания и др.), ускоряющих процессы старения в РТМ [25, 26]. Современные [27-32] подходы к оценкам остаточной надежности радиотехнических материалов опираются, в основном, на статистические данные по отказам изделий определенного типа за большие интервалы времени. При этом, как правило, не рассматриваются конкретные физические процессы в РТМ, приводящие к снижению долговечности и надежности радиоэлектронных материалов, например, интегральных микросхем (ИС) или других образцов элементной базы радиоэлектронного оборудования и электронной техники при реальных рабочих температурах в условиях длительной эксплуатации [24-26].
Отказы полупроводниковых приборов (ППП) и ИС из-за коррозии металлизации достаточно часты [24-26, 33-42]. Установлено, что во многих случаях пластмассовые корпуса не защищают материалы ППП от проникновения влаги и воздуха при длительной эксплуатации [33-36]. Типичные полимерные материалы (полиэтилен, стеклотекстолит, эпоксидные смолы), использующиеся для изготовления корпусов микросхем и изоляции металлических проводников, при длительной работе в условиях циклических и механических нагрузок часто растрескиваются (особенно при циклическом нагреве и охлаждении) [43-45]. Многие реальные радиотехнические материалы работают в условиях повышенной влажности. Но этот фактор, являющийся неблагоприятным для работы любого образца РЭО и ЭТ, учитывается при проектировании изделий достаточно формально [25] путем ввода эмпирических коэффициентов в показатели надежности.
Интегральные микросхемы постепенно вытесняют схемы на дискретных элементах. Любое радиоэлектронное устройство не обходится в настоящее время без ИС [46]. Основными достоинствами микросхем являются малые габариты, масса, потребляемая мощность, высокая надежность, стабильность выходных характеристик. Несмотря на гарантированную высокую надежность ИС и стабильность выходных характеристик, на поверхности материалов таких схем развиваются физикохимические процессы, под действием которых микросхемы выходят из строя или происходит параметрический отказ [25, 26].
Существующие в настоящее время методики прогнозирования надежности радиоэлектронного оборудования и электронной техники не учитывают процессы окисления металлических РТМ, а также, связанные с этими процессами, изменения характеристик электронных приборов [1-27].
До настоящего времени экспериментальный или теоретический анализ основных закономерностей процессов переноса зарядов в ИС в условиях окисления металлизации не проводился. Также ранее не исследовалась связь процесса окисления с характеристиками интегральных схем.
Анализ состояния теоретических и практических подходов к прогнозированию работоспособности (или надежности) электронных приборов показывает, что в настоящее время существует объективная потребность в математических моделях, учитывающих комплекс взаимосвязанных термохимических (окислительных), теплофизических, диффузионных и электрических процессов, протекающих в радиотехнических материалах при их эксплуатации.
Цель данной работы - разработка нового подхода к прогностическому моделированию характеристик надежности радиотехнических материалов и радиоэлектронных изделий, в основе которого лежит анализ процессов окисления металлов в условиях интенсивного тепломассопереноса, соответствующих реальным режимам эксплуатации РЭО и ЭТ.
Для достижения этой цели необходимо решение следующих задач:
1 Численное моделирование процессов окисления металлических РТМ, являющихся неотъемлемой частью радиоэлектронного оборудования при их работе с учетом реальных температур и условий массообмена.
2 Моделирование двумерных температурных полей в радиоэлектронном приборе (транзисторе, микросхеме) с учетом важнейших факторов:
• пространственного характера распространения тепла;
• нестационарности процессов теплопереноса;
• конвективного теплообмена с внешней средой;
• радиационного теплообмена с внешней средой;
• наличия локально сосредоточенных источников тепловыделения;
• влияния температуры на скорость окисления металлизации и диффузии окислителя в оксидном слое.
3 Анализ изменения основной характеристики надежности радиоэлектронного оборудования и электронной техники - интенсивности отказов при развитии процессов окисления металлизации в условиях интенсивного воздействия внешней среды и реальных диапазонов изменения температур эксплуатации изделий.
Научная новизна работы
1. Разработан метод прогностического моделирования характеристик работоспособности металлических материалов и параметров надежности радиоэлектронного оборудования с учетом процессов окисления металлов в условиях эксплуатации.
2. Исследованы процессы окисления медных и алюминиевых проводников тока в условиях эксплуатации электронного оборудования. Установлена зависимость изменения показателя надежности радиоэлектронного оборудования во времени при окислении металла в условиях интенсивного тепломассообмена.
3. Установлен эффект саморазогрева металлических проводников радиоэлектронной аппаратуры, обусловленный их окислением, что в итоге приводит к отказам радиоаппаратуры.
4. Показано, что при влиянии воздушной атмосферы основным фактором, определяющим надежность радиоэлектронной аппаратуры является окисление токоведущих элементов схемы.
Практическая значимость
1. Предложенная экспресс-методика оценки надежности РЭО, позволяет прогнозировать время безотказной работы при окислении металлических проводников в условиях интенсивного тепломассообмена.
2. Предложено для сохранения уровня надежности и долговечности радиоэлектронных изделий покрывать токоведущие элементы электронных схем влагозащитными лаками и красками через каждые 1,5-2 года эксплуатации.
3. Результаты работы используются в научной и производственной деятельности компании «НПК ИНТЭК», занимающейся производством навигационной аппаратуры и других систем и комплексов в области безопасности, навигации и связи.
Достоверность полученных результатов
Обоснована контролем выполнения условия консервативности разностной схемы (закон сохранения энергии) и проведением комплекса тестовых расчетов на последовательности сгущающихся сеток по пространственным и временным координатам. Процесс выбора соответствующих параметров проводился до достижения условий, когда результаты решения (температуры этих двух решений) почти не зависели от изменения сеточных параметров (менее 1%).
Защищаемые положения
1. Новая методика прогностического моделирования параметров надежности изделий электронной техники под влиянием окисления металлических элементов в условиях интенсивного тепломассообмена с окружающей средой.
2. Масштабы влияния комплекса физико-химических процессов, протекающих при окислении металлических радиотехнических материалов, на долговечность этих материалов зависят от режимов и условий эксплуатации электронного прибора.
3. Процессы окисления токоведущих элементов электронных схем являются преобладающей причиной отказов радиотехнических материалов и изделий электронной техники при образовании трещин в корпусе электронного прибора.
Личный вклад автора
Состоит в постановке задачи, разработке метода и алгоритма её решения, проведении численного анализа исследуемых процессов, обработке и обобщении результатов теоретических исследований, формулировке выводов и заключения по диссертации.
Апробация работы
Основные результаты диссертационной работы докладывались и обсуждались на следующих конференциях: II Международной научнотехнической конференции «Новые информационные технологии в нефтегазовой отрасли и образовании» - Тюмень 2006 г.; V всероссийской научной конференции «Фундаментальные и прикладные проблемы современной механики» - Томск 2006 г.; XII Всероссийской научнотехнической конференции «Энергетика: экология, надежность, безопасность» - Томск 2006 г.; Всероссийской научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых «Системная интеграция и безопасность» - Томск 2007 г.; Международной конференции «Сопряженные задачи механики реагирующих сред, информатики и экологии» - Томск 2007 г.; IV Международной научно-практической конференции «Электронные средства и системы управления. Опыт иновационного развития» - Томск 2007 г.; VI Минском Международном форуме по тепломассообмену - Минск 2008 г.; Международной научнопрактической конференции «Передовые технические системы и технологии» - Севастополь 2007, 2008 гг.; VII Всероссийском семинаре вузов по теплофизике и энергетике - Кемерово 2011 г.; Международной молодежной научной школе «Энергия и человек» 2011 г.
Публикации.
Основные результаты диссертации представлены в трудах вышеперечисленных конференций, опубликованы три статьи две из которых в журналах, утвержденных ВАК: «Электромагнитные волны и электронные системы», «Известия Томского политехнического университета», а также получено два авторских свидетельства о регистрации программной разработки в Объединенном фонде электронных ресурсов «Наука и образование». Всего по материалам диссертации опубликовано 11 работ, 9 из них в соавторстве с доктором физико-математических наук, профессором Г.В. Кузнецовым и доктором физико-математических наук, профессором Г.Я. Мамонтовым.
В настоящее время модели прогнозирования надежности изделий радиоэлектроники основываются преимущественно на результатах статистического анализа ускоренных испытаний групп изделий [24-26]. Опытные образцы испытывают под действием различных факторов (повышенных температур, напряжения питания и др.), ускоряющих процессы старения в РТМ [25, 26]. Современные [27-32] подходы к оценкам остаточной надежности радиотехнических материалов опираются, в основном, на статистические данные по отказам изделий определенного типа за большие интервалы времени. При этом, как правило, не рассматриваются конкретные физические процессы в РТМ, приводящие к снижению долговечности и надежности радиоэлектронных материалов, например, интегральных микросхем (ИС) или других образцов элементной базы радиоэлектронного оборудования и электронной техники при реальных рабочих температурах в условиях длительной эксплуатации [24-26].
Отказы полупроводниковых приборов (ППП) и ИС из-за коррозии металлизации достаточно часты [24-26, 33-42]. Установлено, что во многих случаях пластмассовые корпуса не защищают материалы ППП от проникновения влаги и воздуха при длительной эксплуатации [33-36]. Типичные полимерные материалы (полиэтилен, стеклотекстолит, эпоксидные смолы), использующиеся для изготовления корпусов микросхем и изоляции металлических проводников, при длительной работе в условиях циклических и механических нагрузок часто растрескиваются (особенно при циклическом нагреве и охлаждении) [43-45]. Многие реальные радиотехнические материалы работают в условиях повышенной влажности. Но этот фактор, являющийся неблагоприятным для работы любого образца РЭО и ЭТ, учитывается при проектировании изделий достаточно формально [25] путем ввода эмпирических коэффициентов в показатели надежности.
Интегральные микросхемы постепенно вытесняют схемы на дискретных элементах. Любое радиоэлектронное устройство не обходится в настоящее время без ИС [46]. Основными достоинствами микросхем являются малые габариты, масса, потребляемая мощность, высокая надежность, стабильность выходных характеристик. Несмотря на гарантированную высокую надежность ИС и стабильность выходных характеристик, на поверхности материалов таких схем развиваются физикохимические процессы, под действием которых микросхемы выходят из строя или происходит параметрический отказ [25, 26].
Существующие в настоящее время методики прогнозирования надежности радиоэлектронного оборудования и электронной техники не учитывают процессы окисления металлических РТМ, а также, связанные с этими процессами, изменения характеристик электронных приборов [1-27].
До настоящего времени экспериментальный или теоретический анализ основных закономерностей процессов переноса зарядов в ИС в условиях окисления металлизации не проводился. Также ранее не исследовалась связь процесса окисления с характеристиками интегральных схем.
Анализ состояния теоретических и практических подходов к прогнозированию работоспособности (или надежности) электронных приборов показывает, что в настоящее время существует объективная потребность в математических моделях, учитывающих комплекс взаимосвязанных термохимических (окислительных), теплофизических, диффузионных и электрических процессов, протекающих в радиотехнических материалах при их эксплуатации.
Цель данной работы - разработка нового подхода к прогностическому моделированию характеристик надежности радиотехнических материалов и радиоэлектронных изделий, в основе которого лежит анализ процессов окисления металлов в условиях интенсивного тепломассопереноса, соответствующих реальным режимам эксплуатации РЭО и ЭТ.
Для достижения этой цели необходимо решение следующих задач:
1 Численное моделирование процессов окисления металлических РТМ, являющихся неотъемлемой частью радиоэлектронного оборудования при их работе с учетом реальных температур и условий массообмена.
2 Моделирование двумерных температурных полей в радиоэлектронном приборе (транзисторе, микросхеме) с учетом важнейших факторов:
• пространственного характера распространения тепла;
• нестационарности процессов теплопереноса;
• конвективного теплообмена с внешней средой;
• радиационного теплообмена с внешней средой;
• наличия локально сосредоточенных источников тепловыделения;
• влияния температуры на скорость окисления металлизации и диффузии окислителя в оксидном слое.
3 Анализ изменения основной характеристики надежности радиоэлектронного оборудования и электронной техники - интенсивности отказов при развитии процессов окисления металлизации в условиях интенсивного воздействия внешней среды и реальных диапазонов изменения температур эксплуатации изделий.
Научная новизна работы
1. Разработан метод прогностического моделирования характеристик работоспособности металлических материалов и параметров надежности радиоэлектронного оборудования с учетом процессов окисления металлов в условиях эксплуатации.
2. Исследованы процессы окисления медных и алюминиевых проводников тока в условиях эксплуатации электронного оборудования. Установлена зависимость изменения показателя надежности радиоэлектронного оборудования во времени при окислении металла в условиях интенсивного тепломассообмена.
3. Установлен эффект саморазогрева металлических проводников радиоэлектронной аппаратуры, обусловленный их окислением, что в итоге приводит к отказам радиоаппаратуры.
4. Показано, что при влиянии воздушной атмосферы основным фактором, определяющим надежность радиоэлектронной аппаратуры является окисление токоведущих элементов схемы.
Практическая значимость
1. Предложенная экспресс-методика оценки надежности РЭО, позволяет прогнозировать время безотказной работы при окислении металлических проводников в условиях интенсивного тепломассообмена.
2. Предложено для сохранения уровня надежности и долговечности радиоэлектронных изделий покрывать токоведущие элементы электронных схем влагозащитными лаками и красками через каждые 1,5-2 года эксплуатации.
3. Результаты работы используются в научной и производственной деятельности компании «НПК ИНТЭК», занимающейся производством навигационной аппаратуры и других систем и комплексов в области безопасности, навигации и связи.
Достоверность полученных результатов
Обоснована контролем выполнения условия консервативности разностной схемы (закон сохранения энергии) и проведением комплекса тестовых расчетов на последовательности сгущающихся сеток по пространственным и временным координатам. Процесс выбора соответствующих параметров проводился до достижения условий, когда результаты решения (температуры этих двух решений) почти не зависели от изменения сеточных параметров (менее 1%).
Защищаемые положения
1. Новая методика прогностического моделирования параметров надежности изделий электронной техники под влиянием окисления металлических элементов в условиях интенсивного тепломассообмена с окружающей средой.
2. Масштабы влияния комплекса физико-химических процессов, протекающих при окислении металлических радиотехнических материалов, на долговечность этих материалов зависят от режимов и условий эксплуатации электронного прибора.
3. Процессы окисления токоведущих элементов электронных схем являются преобладающей причиной отказов радиотехнических материалов и изделий электронной техники при образовании трещин в корпусе электронного прибора.
Личный вклад автора
Состоит в постановке задачи, разработке метода и алгоритма её решения, проведении численного анализа исследуемых процессов, обработке и обобщении результатов теоретических исследований, формулировке выводов и заключения по диссертации.
Апробация работы
Основные результаты диссертационной работы докладывались и обсуждались на следующих конференциях: II Международной научнотехнической конференции «Новые информационные технологии в нефтегазовой отрасли и образовании» - Тюмень 2006 г.; V всероссийской научной конференции «Фундаментальные и прикладные проблемы современной механики» - Томск 2006 г.; XII Всероссийской научнотехнической конференции «Энергетика: экология, надежность, безопасность» - Томск 2006 г.; Всероссийской научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых «Системная интеграция и безопасность» - Томск 2007 г.; Международной конференции «Сопряженные задачи механики реагирующих сред, информатики и экологии» - Томск 2007 г.; IV Международной научно-практической конференции «Электронные средства и системы управления. Опыт иновационного развития» - Томск 2007 г.; VI Минском Международном форуме по тепломассообмену - Минск 2008 г.; Международной научнопрактической конференции «Передовые технические системы и технологии» - Севастополь 2007, 2008 гг.; VII Всероссийском семинаре вузов по теплофизике и энергетике - Кемерово 2011 г.; Международной молодежной научной школе «Энергия и человек» 2011 г.
Публикации.
Основные результаты диссертации представлены в трудах вышеперечисленных конференций, опубликованы три статьи две из которых в журналах, утвержденных ВАК: «Электромагнитные волны и электронные системы», «Известия Томского политехнического университета», а также получено два авторских свидетельства о регистрации программной разработки в Объединенном фонде электронных ресурсов «Наука и образование». Всего по материалам диссертации опубликовано 11 работ, 9 из них в соавторстве с доктором физико-математических наук, профессором Г.В. Кузнецовым и доктором физико-математических наук, профессором Г.Я. Мамонтовым.
Основные результаты и выводы, полученные при выполнении работы, заключаются в следующем.
1. Предложена новая методика к прогностическому моделированию характеристик параметрической надежности радиотехнических материалов и изделий, в основе которой лежит анализ реальных процессов окисления в условиях интенсивного тепломассопереноса, протекающих при работе радиоэлектронного оборудования и электронной техники.
2. Новая методика к прогностическому моделированию характеристик параметрической надежности РТМ позволяет определять время безотказной работы исследуемых электронных приборов.
3. Впервые поставлена и решена задача процессов окисления металла с учетом интенсивного нестационарного теплопереноса в металлических РТМ, являющихся неотъемлемой частью радиоэлектронного оборудования.
4. Впервые проведено численное моделирование основной характеристики надежности радиоэлектронных материалов и оборудования - интенсивности отказов, с учетом протекания окислительных процессов в РТМ. Так например установлено, что, процесс окисления металла в дефектной интегральной микросхеме усилителя звуковой частоты, работающей при температуре окружающей среды 40°С и слабом конвективном теплообмене электронного прибора с окружающей средой может увеличивать ее интенсивность отказов д и радиоэлектронного оборудования в целом в шестьдесят пять раз.
5. Разработанная методика прогностического моделирования показателей параметрической надежности радиотехнических материалов и изделий на их основе может быть использована для оценки надежности проектируемого и введенного в эксплуатацию радиоэлектронного оборудования и электронной техники; дополнения существующих и используемых методик прогнозирования надежности радиоэлектронного оборудования и электронной техники; оптимизации процесса выбора радиотехнических материалов на этапе проектирования.
1. Предложена новая методика к прогностическому моделированию характеристик параметрической надежности радиотехнических материалов и изделий, в основе которой лежит анализ реальных процессов окисления в условиях интенсивного тепломассопереноса, протекающих при работе радиоэлектронного оборудования и электронной техники.
2. Новая методика к прогностическому моделированию характеристик параметрической надежности РТМ позволяет определять время безотказной работы исследуемых электронных приборов.
3. Впервые поставлена и решена задача процессов окисления металла с учетом интенсивного нестационарного теплопереноса в металлических РТМ, являющихся неотъемлемой частью радиоэлектронного оборудования.
4. Впервые проведено численное моделирование основной характеристики надежности радиоэлектронных материалов и оборудования - интенсивности отказов, с учетом протекания окислительных процессов в РТМ. Так например установлено, что, процесс окисления металла в дефектной интегральной микросхеме усилителя звуковой частоты, работающей при температуре окружающей среды 40°С и слабом конвективном теплообмене электронного прибора с окружающей средой может увеличивать ее интенсивность отказов д и радиоэлектронного оборудования в целом в шестьдесят пять раз.
5. Разработанная методика прогностического моделирования показателей параметрической надежности радиотехнических материалов и изделий на их основе может быть использована для оценки надежности проектируемого и введенного в эксплуатацию радиоэлектронного оборудования и электронной техники; дополнения существующих и используемых методик прогнозирования надежности радиоэлектронного оборудования и электронной техники; оптимизации процесса выбора радиотехнических материалов на этапе проектирования.
