В настоящее время синтетический алмаз начинает активно применяться в СВЧ электронике и оптоэлектронике. Для создания лазерных активных сред, квантовых сенсоров магнитного поля, прототипов кубитов для квантовых вычислений применяют радиационную термическую обработку с целью формирования примесно-дефектных комплексов типа NV и N2V.
Радиационно-термическая обработка производится, как правило, в 2 этапа: облучение алмазного образца, содержащего азот, высоко энергетическими частицами (электроны, нейтроны) и последующим отжигом при температурах 700-1600 °С. В указанном диапазоне температур вакансии, возникшие вследствие радиационной обработки, становятся подвижными и образуют с замещающим азотом Ns или ^-центрами примесно-дефектные комплексы.
Вакансия - это собственный дефект структуры, который может находиться в двух зарядовых состояниях: нейтральном (V0), бесфононная линия 741 нм (GRl-центр) и отрицательном (V-), бесфононная линия 394 нм (ND1- центр). В алмазах с низким содержанием азота вакансия находится, как правило, в нейтральном зарядовом состоянии. Контроль дозы, полученный образцом вследствие радиационной обработки, удобно проводить по спектрам поглощения.
Исходя из этого, целью данной бакалаврской работы является исследование оптического поглощения нейтральной вакансии, а также на основе спектров оптического поглощения оценивается доза радиационной обработки образца.
В связи с выше поставленной целью, решались следующие представленные задачи:
1. Подготовка литературного обзора по оптическому поглощению нейтральной вакансии в алмазе.
2. Освоение экспериментальной методики измерения оптического пропускания плоскопараллельных образцов.
3. Проведение измерений и вычисление спектров оптического поглощения.
4. Анализ полученных результатов и формулировка выводов
1) В данной бакалаврской работе при помощи необходимого оборудования была освоена методика измерения спектров пропускания для образцов алмаза, прошедших радиационно-термическую обработку.
2) Исследовали оптическое поглощение нейтральной вакансии. Также были освоены методики оценки концентрации собственных дефектов и дозы облучения.
3) По спектрам пропускания смогли вычислить спектры оптического поглощения и по ним оценить дозу радиационной обработки образцов.
4) Температурные зависимости поглощения доминирующей линии бес- фононного дублета нейтральной вакансии аппроксимируются эмпирическим законом Мотта, сформулированным для тушения люминесценции.
1. Г.Б. Бокий, Г.Н. Безруков, Ю.А. Клюев, А.М. Налетов, В.И. Непша Природные и синтетические алмазы // М.:Наука, 1986, с.229.
2. The properties of diamond/Ed. J.E. Field. Acad. press, 1979, 674 p.
3. Стоунхэм А.М. Теория дефектов в твёрдых телах. М.: Мир, 1978, т. 2, с 306-339.
4. Корбетт Дж., Бургуэн И.Ж. Дефектообразование в полупроводниках. - В кн.: Точечные дефекты в твердых телах. М.: Мир, 1979, с. 9-162.
5. Physical properties od diamond/ Ed.R. Berman. Oxford: Clarendon press, 1965. 443 p.
6. Ильин В.Е. Спектры поглощения и люминесценции примесных центров в алмазе: Автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук. Новосибирск: ИНХ СО АН СССР, 1970. 21 с.
7. Davies G. Charge states of vacancy in diamond. - Nature, 1977, vol. 269, N 5628, p. 498-500.
8. Соболев Е.В., Аксенов В.К. Ионизация вакансий в алмазах типов Ia и IIa по данным спектров ЭПР. - Синтет. алмазы, 1979, №1, с. 6-10.
9. А.М. Зайцев, В.С. Вавилов, А.А. Гиппиус, «Подпороговое» дефектообразование в природном алмазе // 1980, Письма в ЖЭТФ, том 31, вып.3, с. 181-184.
10. Walker J. Optical absorption and luminescence in diamond. - Rep. Progr. Phys., 1979, vol. 42, p. 1606-1659.
11. Надолинный В.А. Исследование дефектов в структуре алмаза методами ЭПР: Автореф. дис. ... канд физ.-мат. наук. Новосибирск: ИФП СО АН СССР, 1978. 19 с.
12. Соболев Е.В., Юрьева О.П. Собственные межузельные атомы в алмазе и кремнии вблизи дивакансий. - Физика и техника полупроводников, 1982, 16, №8, с. 1513-1515.
13. A.M. Zaitsev Optical Properties of Diamond: A Data Handbook