Тип работы:
Предмет:
Язык работы:


РАСЧЕТ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР SI-GE

Работа №181193

Тип работы

Дипломные работы, ВКР

Предмет

физика

Объем работы46
Год сдачи2016
Стоимость4650 руб.
ПУБЛИКУЕТСЯ ВПЕРВЫЕ
Просмотрено
4
Не подходит работа?

Узнай цену на написание


Введение 3
1. Технологии тонких пленок и наногетероструктур 5
1.1. Молекулярно-лучевая эпитаксия 6
1.2. Газофазовая эпитаксия 9
1.4. Механизмы эпитаксиального роста тонких пленок 10
1.5. Выводы 15
2. Основные преимущества фотодетекторов с квантовыми точками 16
3. Фотоприемники ИК диапазона 20
3.1. Характеристики 23
3.1.1. Чувствительность 23
3.1.2. Мощность, эквивалентная шуму 23
3.1.3.Обнаружительная способность 24
3.1.4. Другие параметры фотоприемников 24
4. Расчет параметров фоточувствительных элементов 28
4.1 Основные параметры фотоприемных устройств на основе квантовых
точек 28
4.2 Результаты расчетов 32
4.3. Выводы 41
Заключение 42
Список использованной литературы 44


В настоящее время невозможно представить современную полупроводниковую электронику без фоточувствительных структур. Стоит вопрос создания структур высокого качества, и при этом затратить как можно меньше финансовых затрат. В последние годы исследователи проявляют очень большой интерес к созданию различных оптоэлектронных устройств на основе материала с квантовыми точками германия в кремнии. Такими приборами могут быть фотоприемники инфракрасного диапазона и солнечные элементы. К преимуществам данной материальной системы можно отнести: продление спектрального отклика в инфракрасную область, по сравнению c чистым кремнием, относительную дешевизну, безвредность для здоровья человека, работу в широком температурном интервале и совместимость c высокоразвитой технологией кремниевых интегральных микросхем.
В настоящее время наногетероструктуры на основе кремния с квантовыми точками германия становятся новым классом материалов для фотовольтаики. Самая общая оценка показывает, что предельная эффективность преобразования излучения в электричество для фотопреобразователей на основе таких материалов может достигать 63 % за счет поглощения излучения в большем интервале длин волн. Для фотопреобразователей на основе кремния коэффициент преобразования составляет 53 %. Характеристики фоточувствительных структур на основе
наногерероструктур Si-Ge такие как обнаружительная способность, КПД напрямую зависят от параметров квантовых точек. A наиболее перспективным методом получения таких структур является метод молекулярно-лучевой эпитаксии. Т.к обладает более высокой точностью и способностью задавать параметры структур.
Поэтому появляется необходимость изучения и расчета основных параметров наногетероструктур Si-Ge. Отсюда целью данной работы являлось провести расчеты темнового тока и обнаружительной способности ИК фотодетекторов на основе квантовых точек германия от условий роста.
Основные задачи:
• Обзор литературы;
• Способы получения фоточувствительных структур;
• Основные параметры фоточувствительных структур Рпор, D*, шумы;
• Изучение современное состояние фоточувствительных структур;
• Теория по расчету параметров фоточувствительных структур;
• Расчет параметров фоточувствительных структур;
• Обсуждение полученных результатов.


Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь в написании работ!


В ходе выполненной работы можно сделать следующие выводы:
❖ Приборы на основе соединений Si и Ge являются одними из самых интересных для развтия, это связанно с высокой интеграцией проводимых разработок с базовой кремниевой технологией;
❖ Метод молекулярно- лучевой эпитаксии является наиболее перспективным методом для создания и исследования фоточувствительных структур;
❖ Структуры с квантовыми точками на данный момент представляют повышенный интерес у исследователей, в связи с рядом преимуществ:
> Снятие запрета на оптические переходы, поляризованные в плоскости фотодетектора, что предоставляет возможность работы прибора при нормальном падении излучения;
> Большая величина коэффициента поглощения излучения для внутризонных и экситонных переходов из-за локализации волновой функции носителей заряда во всех трех измерениях пространства;
> Большое время жизни фотовозбужденных носителей заряда вследствие низкой скорости захвата носителей в квантовой точке, причиной последнего служит либо отсутствие разрешенных энергетических состояний между уровнем в квантовой точке и зоной распространенных состояний, либо подавление рассеяния на оптических фотонах в условиях, когда энергетический зазор между уровнями размерного квантования больше энергии оптического фонона;
> Малые темновые токи (а значит, и высокая рабочая температура детектора), последнее обстоятельство является следствием равенства энергии фотоионизации квантовой точки и энергии активации проводимости из-за дискретного энергетического спектра носителей в квантовой точке [6].
❖ Основные характеристики фотоприемника ИК диапозона является его обнаружительная способность, которая напрямую зависит от параметров квантовых точек, чувствительность и мощность эквивалентная шуму. Также неоспоримый вклад вносит величина темнового тока. Основными параметрами при выборе фотоприемников является возможность работы при высоких температурах без ухудшения характеристик и низкая стоимость изготовления. Эти параметры можно реализовать в наногетероструктурах SiGe с квантовыми точками Ge.
❖ При сравнении основных характеристик фоточуствительных структур на основе наногетероструктур можно сделать вывод, что при достижении высокой степени однородности массивов островков фотоприемники с наногетероструктурами SiGe могут конкурировать с фотоприемниками на основе структур HgGdTe. Как было замечено из полученных зависимостей структуры с квантовыми точками обладают рядом достоинств, по сравнению с объемными структурами HgCdTe, это малые темновые токи, которые в свою очередь обеспечивают низкий уровень шумов, более высокую обнаружительную способность при комнатных температурах.
❖ На основе проведенных расчетов темнового тока структур SiGe, можно сделать следующие выводы: темновой ток резко возрастает с ростом приложенного электрического поля (особенно в области низких напряжений); темновой ток фотодетектора очень сильно зависит от рабочей температуры.
❖ Проведено сравнение с экспериментальными данными полученными А.И. Якимовым (СО РАН РФ) и китайскими учеными во главе с Wang K. L., получено хорошее согласие результатов.


1. Дубровский В.Г. Теоретические основы технологии полупроводниковых наноструктур: учебное пособие, Санкт-Петербург, 2006. - 610с.
2. Н.Лойко. Введение в молекулярно-лучевую эпитаксию: учебное пособие, Москва, 1999. - 28с.
3. Лозовский В. Н., Константинова Г. С. , Лозовский С. В. Нанотехнология в электронике. Введение в специальность: учебное пособие. 2е изд., испр. — СПб.: Издательство «Лань», 2008. — 336 с.
4. Фотоэлектрические свойства наноструктур GeSi/Si. учебное пособие. / Д.О.Филатов, М.А. Исаков, М.В. Круглова - Н.Новгород: ННГУ, 2010. - 118 с.
5. Солнечные концентраторные фотоэлектрические установки [Электронный ресурс]: URL: - http://pvlab.ioffe.ru/Technology/sfeu.html (Дата обращения 16.06.2016).
6. Войцеховский А.В.,Ижнин И.И.,Савчин В.П.,Вакив Н.М. Физические основы полупроводниковой фотоэлектроники - Томск: Издательский Дом Томского государственного университета,2013.-560с.+2стр.вклеек
7. Якимов А. И., Двуреченский А. В., Никифоров А. И. и др. Фотодиоды Ge/Si со встроенными слоями квантовых точек Ge для ближней ИК-области // ФТП. - 2003. - Т.37. - №11. - С.1383-1388.
8. Якимов А. И., Двуреченский А. В., Кириенко В. В. и др. Волоконные Ge/Si- фотодиоды со встроенными слоями квантовых точек Ge для волоконнооптических линий связи // ФТП. - 2004. - Т.38. - №10. - С.1265-1269
9. Андронов А.А., Захаров Н.Г., Маругин А.В., Савикин А.П. Новые источники и приемники ИК и терагерцового диапазона: учебнометодический материал по программе повышения квалификации «Новые подходы к проблемам генерации,обработки, передачи, хранения, защиты информации и их применения».Нижний Новгород, 2007, - 95с.
10. Рогальский А. Инфракрасные детекторы. - Новосибирск: Наука, 2003. - 636с.
11. Фотоприемники видимого и ИК диапазонов под редакцией Р.Дж.Киеса :Перевод с английского под редакцией В.И.Стафеева. Москва «Радио и связь», 1985. - 238 c.
12. Кочанов Ю., Петрощенко М., Соломицкий Д. Инфракрасные датчики длинноволного диапазона на квантовых ямах // компоненты и техника: сб. статей, 2014. - 6 c.
13. Войцеховский А.В., Коханенко А.П., Лозовой К.А. Оптимизация ростовых условий для улучшения параметров фотоприемников и солнечных элементов с квантовыми точками. // Прикладная физика №5. Томск, - 2014. - С.45.
14. Yakimov A., Kirienko V., Armbrister V., Dvurechenskii A. Broadband Ge/SiGe quantum dot photodetector on pseudosubstrate // Nanoscale Research Letters. - 2013. - V. 8. - P. 217 (1-5).
15. Phillips J. Evaluation of the fundamental properties of quantum dot infrared detectors // J. Appl. Phys. - 2002. - V. 91. - № 7. - P. 4590-4594...19



Работу высылаем на протяжении 30 минут после оплаты.




©2025 Cервис помощи студентам в выполнении работ