Тип работы:
Предмет:
Язык работы:


Построение последовательности тестовых сигналов для комбинационных цифровых схем и схем с памятью

Работа №126094

Тип работы

Магистерская диссертация

Предмет

модели данных

Объем работы54
Год сдачи2019
Стоимость5650 руб.
ПУБЛИКУЕТСЯ ВПЕРВЫЕ
Просмотрено
81
Не подходит работа?

Узнай цену на написание


Введение 4
Постановка задачи 6
Глава 1. Развитие электроники и схемотехники 8
1.1 Первое поколение электроники. Отправная точка развития 8
1.2 Второе поколение электроники. Разработка и совершенствование электровакуумных приборов 9
1.3 Третье поколение электроники. Кремниевый век 10
1.4 Четвертое поколение электроники. Интегральные схемы 10
Глава 2. Обзор современных методов решения задачи 14
2.1 Визуальный автоматизированный контроль 14
2.2 Внутрисхемное тестирование 16
2.3 Периферийное/граничное сканирование 17
2.4 Функциональное тестирование 18
Глава 3. Построение программной модели 22
3.1 Язык описания логики элементов 22
3.2 Проектирование цифрового устройства с помощью мультиплатформенной среды проектирования Altera Quartus II 23
3.3 Система автоматизированного проектирования «SimTest» 24
Глава 4. Составление программной модели объекта контроля 26
4.1 Моделирование компонентов 26
4.2 Электронная модель схемы 41
Глава 5. Тестирование 44
5.1 Привязка логических интерфейсов 45
5.2 Генерация теста 46
5.3 Анализ покрытия 47
Выводы 48
Заключение 49
Список литературы 50

В 1947 году учёные Джон Бардин, Уильям Брэдфорд Шокли и Уолтер Хаузер Браттейн изобрели транзистор — основной элемент микроэлектроники. Данное открытие имело революционный характер для дальнейшего развития радиоэлектроники [1-3].
Первыми данным изобретением воспользовались производители слуховых аппаратов. Так в 1953 году был создан первый транзисторный слуховой аппарат. Военные так же активно использовали данный прибор, он помогал уменьшить вес и габариты радиоэлектронных приборов [4].
В 1960 году появилась первая микросхема — чаще всего типовая, электронная схема, выполненная на едином кристалле. После этого события радиотехника и цифровая техника начали входить во все сферы человеческой жизни. Сложно представить нашу жизнь без смартфонов, ноутбуков, автомобилей - все эти предметы включают в себя различные микросхемы. Однако, как и в любой сфере серийного производства, при изготовлении цифровых устройств присутствует брак, поэтому для конвейерного производства необходима быстрая и качественная диагностика каждого компонента устройства.
Поиск неисправных элементов еще полностью не автоматизирован и является актуальной проблемой на сегодняшний день. Существует несколько подходов выявления неисправностей, в данной работе будет использована функциональная система тестирования, которая включает систему автоматизированного проектирования (САПР) тестов «SimTest» (САПР, разработанный в СПбГУ), «Yastek» и аппаратно-программный комплекс тестового контроля и диагностики УТК-512. Данные системы помогают произвести не только качественную, но еще и достаточно быструю диагностику [5-19]
Цифровое устройство — техническое устройство или приспособление, состоящее из набора электронных модулей с заданным алгоритмом работы, которое предназначено для получения, обработки и хранения информации в цифровой форме, используя цифровые технологии [20]. Под тестом устройства понимают вектор входных и соответствующих им выходных данных, который проверяет компоненты устройства, а также корректность связей между ними. После создания тест загружается в устройство тестового контроля и диагностики и используется для отбраковывания неисправных объектов контроля.
В данной работе представлен алгоритм проведения функционального тестирования на реальном объекте.

Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь студентам в написании работ!


В работе:
• разобраны возможные типы тестирование электронных устройств, также описаны их плюсы и минусы;
• представлены и реализованы все этапы формирования программных моделей отдельных компонентов объекта (69 логических элемента, 12 компараторов, 15 мультиплексоров, 1 ram, 2 rom, 11 регистров, 17 счетчиков, 37 триггера, 2 дешифратора) в среде разработки Altera Quartus II (таких как KP1533IP5, KP1533ID3, KP1533IB7, KP1533KP12, P556RT7А);
• приведены и реализованы все этапы построения тестовой последовательности и эмуляции теста на примере реального объекта контроля ТС3.016.524.Э7 в САПР «SimTest»;
• произведен анализ полученных данных на основе тестового покрытия, предоставленного САПР «SimTest».


1. Новиков, М. А. Олег Михайлович Лосев — пионер полупроводниковой электроники (рус.) // Физика твёрдого тела. — 2004. — Т. 46, № 1. — С. 5— 9
2. https: //www.kit-e.ru/articles/elcomp/2006_9_198.php
3. http://radioschema.ru/istoriya/istoriya-izobreteniya-tranzistora.html
4. Шокли, У. Теория электронных полупроводников: Приложения к теории транзисторов. // М.: Издательство иностранной литературы, 1953. — 714 с.
5. Гришкин В.М., Лопаткин Г.С., Михайлов А.Н., Овсянников Д.А. Интерфейсный метод построения моделей входных воздействий для тестирования электронных цифровых модулей. // Электроника: Вопросы радиоэлектроники. 2013. Т. 1. № 1. С. 80-89.
6. Гришкин В.М., Степанов Ю.Л., Лопаткин Г.С., Большаков А.А. Подход к разработке тестов цифровых электронных модулей для автоматического тестового оборудования. // Электроника: Вопросы радиоэлектроники. 2013. Т. 1. № 1. С. 89-99.
7. Мельник В., Гришкин В., Михайлов А., Овсянников Д. Тестовый контроль и диагностика радиоэлектронной аппаратуры // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2013. Вып. 128. С. 114-117.
8. Мельник В., Гришкин В., Михайлов А., Овсянников Д. Методика разработки тест-программ контроля и диагностики цифровых устройств с использованием САПР SimTest // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2013. Вып. 128. С. 118-124.
9. Папулин Д.А., Смирнов А.Д., Гришкин В.М., Степанов Ю.Л. Mетод применения устройств тестового контроля в качестве сканера цифровых контрольно-диагностических тестов. // Смирнов Николай Васильевич. Процессы управления и устойчивость. 2018. Т. 5. № 1. С. 287-291.
10. Папулин Д.А., Смирнов А.Д., Гришкин В.М., Степанов Ю.Л. Поведенческие модели для логических элементов с частично определенной логикой. // Смирнов Николай Васильевич. Процессы управления и устойчивость. 2018. Т. 5. № 1. С. 292-296.
11. Степанов Ю.Л., Гришкин В.М., Елаев Е.В., Федюкович П.А. Развитие программной среды "ястек" и ее использование при написании тестовых программ для цифровых модулей. // М.: Центральный научно-исследовательский институт экономики, систем управления и информации «Электроника. Вопросы радиоэлектроники. 2015. № 2. С. 198-205.
12. Федюкович П.А., Елаев Е.В., Мащинский Н.С., Гришкин В.М. Формирование тестовых последовательностей с помощью sat-решателя. // Смирнов Николай Васильевич. Процессы управления и устойчивость. 2015. Т. 2. № 1. С. 521-526.
13. Grishkin V., Yelaev Y., Lopatkin G., Mikhailov A., Ovsyannikov D. Interface method of digital devices testing. // Institute of Electrical and Electronics Engineers. Tenth International Vacuum Electron Sources Conference (IVESC) & Second International Conference on Emission Electronics (ICEE) 2014. С. 107-108.
14. Melnik V.I., Mikhailov A.N., Grishkin V.M., Ovsyannikov D.A., Yelaev Y.V. Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices. // Спб: Издательство Санкт-Петербургского государственного университета. 2014 International conference on computer technologies in physical and engineering applications (ICCTPEA). 2014. С. 112-113.
15. Melnik V.I., Mikhailov A.N., Grishkin V.M., Ovsyannikov D.A., Yelaev Y.V. Modeling methods of the test inputs for analysis the digital devices. // Спб: Издательство Санкт-Петербургского государственного университета. 2nd International Conference on Emission Electronics (ICEE) Selected papers. Proceedings Edited by: N. V. Egorov, D. A. Ovsyannikov, E. I. Veremey. 2014. С. 48-50.
...


Работу высылаем на протяжении 30 минут после оплаты.




©2024 Cервис помощи студентам в выполнении работ