Введение 4
1. Аппарат для тестирования программ полупроводниковых цепей и
текущие проблемы тестирования 7
1.1 Что такое тест-кейс? 11
1.2 Зачем нужны тест-кейсы? 11
1.2.1 Атрибуты тест-кейса 11
1.2.2 Важные пункты тест-кейса 12
1.2.3 Нежелательные элементы тест-кейса 12
2. Системы отслеживания неисправностей и ошибок программного
обеспечения 14
3. Жизненный цикл ошибки в системе отслеживания неисправностей и
ошибок программного обеспечения 16
4. Критерии и обзор существующих систем отслеживания
неисправностей и ошибок программного обеспечения 18
5. Эффективные системы отслеживания ошибок 24
5.1 Ориентация на инструменты 25
5.2 Ориентация на информацию 25
5.3 Ориентация на процесс 25
5.4 Ориентация на пользователя 26
5.5 Вопросы в отчете об ошибке 26
6. Особенности тестирования управляющих систем 28
7. Как же происходит процесс тестирования? 29
8. Исследование тестирования программного обеспечения: достижения,
проблемы, цели 32
9. Поиск ошибок. Методы нахождения ошибок и причин
неработоспособности электронных устройств 60
10. Использование методов тестирования 79
Заключение 84
Список используемой литературы 85
В качестве одной из важнейших высокотехнологичных отраслей промышленности в настоящее время производство полупроводников сталкивается с множеством возможностей и проблем одновременно. Быстрый рост полупроводниковой промышленности приносит большие экономические выгоды. Между тем, жесткая конкуренция требует, чтобы полупроводниковая компания повышала производительность и эффективно использовала ресурсы.
Очень важно иметь возможность протестировать и отладить своё устройство до его запуска в массовое производство. При этом все найденные ошибки и неточности нужно правильно зарегистрировать и проследить за их жизненным циклом. Для этого нам нужны специальные системы, которые бы значительно упрощали работу с уже найденными ошибками.
В данной диссертации изучены и разработаны новые методики для диагностирования и нахождения неисправностей или ошибок программного кода в управляемых полупроводниковых устройствах.
Область исследования
Полупроводниковые управляемые устройства.
Объект исследования
Методы тестирования управляемых полупроводниковых устройств. Системы отслеживания неисправностей и ошибок программного обеспечения.
Предмет исследования
Нахождение местоположения неисправности и ошибок программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах. Регистрация и наблюдение за ошибкой или неисправностью в разработанной системе отслеживания ошибок программного обеспечения.
Цель исследования
Разработка методов нахождения местоположения неисправности в управляемых полупроводниковых устройствах. Разработка системы отслеживания ошибок программного обеспечения.
Задачи исследования:
1. Анализ типовых проблем в управляемых полупроводниковых устройствах;
2. Разработка и исследование методологических рекомендаций по выявлению местоположения неисправностей или ошибок работы программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах;
3. Разработка и исследование систем для отслеживания неисправностей и ошибок программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах.
Методы исследования
Изучение и анализ текущих достижений в заданной области. Поиск возможных улучшений.
Научная новизна
Были разработаны и предложены новые методы анализа и тестирования управляемых полупроводниковых устройств. Составлены четкие требования, которым должна соответствовать система для отслеживания неисправностей и ошибок программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах.
Практическая значимость
Новые методы анализа и тестирования управляемых полупроводниковых устройств могут существенно упростить работу по отладке и ремонта полупроводниковых устройств. Занесение всех найденных проблем в систему отслеживания значительно улучшит продуктивность работы.
Апробация работы
Две публикации в сборнике научно-практической конференции «Студенческие Дни науки в ТГУ»
В ходе проведенной научно-исследовательской работы были проанализированы все текущие направления развития тестирования. Так же, были составлены методологические указания для тестирования и диагностики управляемых полупроводниковых устройств и требования к системе отслеживания неисправностей и ошибок программного обеспечения для управляемых полупроводниковых устройств.
