Тема: Разработка метода тестирования электронных устройств с пользовательским интерфейсом
Закажите новую по вашим требованиям
Представленный материал является образцом учебного исследования, примером структуры и содержания учебного исследования по заявленной теме. Размещён исключительно в информационных и ознакомительных целях.
Workspay.ru оказывает информационные услуги по сбору, обработке и структурированию материалов в соответствии с требованиями заказчика.
Размещение материала не означает публикацию произведения впервые и не предполагает передачу исключительных авторских прав третьим лицам.
Материал не предназначен для дословной сдачи в образовательные организации и требует самостоятельной переработки с соблюдением законодательства Российской Федерации об авторском праве и принципов академической добросовестности.
Авторские права на исходные материалы принадлежат их законным правообладателям. В случае возникновения вопросов, связанных с размещённым материалом, просим направить обращение через форму обратной связи.
📋 Содержание
1. Аппарат для тестирования программ полупроводниковых цепей и
текущие проблемы тестирования 7
1.1 Что такое тест-кейс? 11
1.2 Зачем нужны тест-кейсы? 11
1.2.1 Атрибуты тест-кейса 11
1.2.2 Важные пункты тест-кейса 12
1.2.3 Нежелательные элементы тест-кейса 12
2. Системы отслеживания неисправностей и ошибок программного
обеспечения 14
3. Жизненный цикл ошибки в системе отслеживания неисправностей и
ошибок программного обеспечения 16
4. Критерии и обзор существующих систем отслеживания
неисправностей и ошибок программного обеспечения 18
5. Эффективные системы отслеживания ошибок 24
5.1 Ориентация на инструменты 25
5.2 Ориентация на информацию 25
5.3 Ориентация на процесс 25
5.4 Ориентация на пользователя 26
5.5 Вопросы в отчете об ошибке 26
6. Особенности тестирования управляющих систем 28
7. Как же происходит процесс тестирования? 29
8. Исследование тестирования программного обеспечения: достижения,
проблемы, цели 32
9. Поиск ошибок. Методы нахождения ошибок и причин
неработоспособности электронных устройств 60
10. Использование методов тестирования 79
Заключение 84
Список используемой литературы 85
📖 Введение
Очень важно иметь возможность протестировать и отладить своё устройство до его запуска в массовое производство. При этом все найденные ошибки и неточности нужно правильно зарегистрировать и проследить за их жизненным циклом. Для этого нам нужны специальные системы, которые бы значительно упрощали работу с уже найденными ошибками.
В данной диссертации изучены и разработаны новые методики для диагностирования и нахождения неисправностей или ошибок программного кода в управляемых полупроводниковых устройствах.
Область исследования
Полупроводниковые управляемые устройства.
Объект исследования
Методы тестирования управляемых полупроводниковых устройств. Системы отслеживания неисправностей и ошибок программного обеспечения.
Предмет исследования
Нахождение местоположения неисправности и ошибок программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах. Регистрация и наблюдение за ошибкой или неисправностью в разработанной системе отслеживания ошибок программного обеспечения.
Цель исследования
Разработка методов нахождения местоположения неисправности в управляемых полупроводниковых устройствах. Разработка системы отслеживания ошибок программного обеспечения.
Задачи исследования:
1. Анализ типовых проблем в управляемых полупроводниковых устройствах;
2. Разработка и исследование методологических рекомендаций по выявлению местоположения неисправностей или ошибок работы программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах;
3. Разработка и исследование систем для отслеживания неисправностей и ошибок программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах.
Методы исследования
Изучение и анализ текущих достижений в заданной области. Поиск возможных улучшений.
Научная новизна
Были разработаны и предложены новые методы анализа и тестирования управляемых полупроводниковых устройств. Составлены четкие требования, которым должна соответствовать система для отслеживания неисправностей и ошибок программного обеспечения в управляемых полупроводниковых устройствах.
Практическая значимость
Новые методы анализа и тестирования управляемых полупроводниковых устройств могут существенно упростить работу по отладке и ремонта полупроводниковых устройств. Занесение всех найденных проблем в систему отслеживания значительно улучшит продуктивность работы.
Апробация работы
Две публикации в сборнике научно-практической конференции «Студенческие Дни науки в ТГУ»



