Тип работы:
Предмет:
Язык работы:


ЭЛЕКТРОННЫЙ МОДУЛЬ ТЕСТИРОВАНИЯ ОСНОВНЫХ КОМПОНЕНТОВ МИКРОПРОЦЕССОРНОЙ СИСТЕМЫ

Работа №110688

Тип работы

Бакалаврская работа

Предмет

электротехника

Объем работы66
Год сдачи2018
Стоимость4700 руб.
ПУБЛИКУЕТСЯ ВПЕРВЫЕ
Просмотрено
13
Не подходит работа?

Узнай цену на написание


Введение
1Анализ основных особенностей работы модуля тестирования компонентов
микропроцессорной системы
1.1Анализ основных проблем тестирования оборудования
1.2Особенности применения аппаратуры тестирования и разбраковки
микропроцессоров
1.2.1Первоначальная отладка
1.2.2Тестирование микросхем
1.2.3Разбраковка
1.2.4Оценка эффективности применения аппаратуры
1.2.5Маршрут разработки аппаратуры тестирования
1.3Обзор методов тестирования оперативной памяти
1.3.1Неразрушающее тестирование памяти
1.3.2Тестирование по методу Николаидиса
1.4Требования к разрабатываемому модулю
2Проектирование микропроцессорного модуля тестирования
2.1Проектирование архитектуры модуля тестирования компонентов
микропроцессорной системы
2.2Выбор аппаратного и программного обеспечения
2.2.1Выбор компонентов модуля тестирования компонентов
микропроцессорной системы
2.2.2Выбор программного обеспечения
2.2.3Технические характеристики каналов связи между проектируемым
устройством и тестируемым устройством
2.3Алгоритм работы микропроцессорной системы
2.4Методы обеспечения качества модуля тестирования компонентов
микропроцессорной системы
3Реализация микропроцессорного модуля тестирования
3.1Конструкторско-технологическая документация системы
3.1.1Описание процесса изготовления печатной платы
3.1.2Проектирование печатной платы модуля тестирования в редакторе
Dip Trace
3.2Описание особенностей программирования модуля тестирования
компонентов микропроцессорной системы
3.3Тестирование и отладка микропроцессорного модуля тестирования
3.4Описание эксплуатационной документации микропроцессорного модуля
тестирования
Заключение
Список используемой литературы

Проверка микропроцессорной системы заключается в исследовании ее работоспособности, с использованием специализированных программноориентированных или внутрисхемно ориентированных устройств тестирования. Тестирование обычно происходит на стадиях разработки и починки микропроцессорной системы. Также проверку системы проводят при ее эксплуатации, для проверок на наличие ошибок и достоверности обработки данных.
Универсальность и гибкость микропроцессорных систем (МПС), как устройств с программным управлением наряду с высокой надежностью и дешевизной позволяют широко применять их в самых различных системах управления для замены аппаратной реализации функций управления, контроля, измерения и обработки данных. Микропроцессорные средства позволяют создавать разнообразные по сложности выполняемых функций устройства управления — от простейших микроконтроллеров несложных приборов и механизмов до сложнейших специализированных и универсальных систем распределенного управления в реальном времени.
Довольно часто в процессе тестирования и эксплуатации различных электронных и микропроцессорных систем возникает необходимость в некотором устройстве, с помощью которого можно было бы отображать тестовую и другую информацию и управлять этими системами. В роли такого устройства целесообразно использовать малогабаритный электронный блок, способный обмениваться с внешними устройствами по последовательному каналу. Если же блок содержит в себе микропроцессор, он становится универсальным средством, способным работать с любыми протоколами и даже выступать в качестве самостоятельного автономного программируемого устройства управления и контроля.
Цель бакалаврской работы: разработать модуль, способный универсальным образом подключаться к электронному или микропроцессорному устройству для его контроля. Объектом исследования являются микропроцессоры, постоянная память и устройства ввода-вывода, применяемые при тести-

Возникли сложности?

Нужна помощь преподавателя?

Помощь в написании работ!


В результате выполнения бакалаврской работы был спроектирован микропроцессорный модуль тестирования и управления электронными устройствами на базе микропроцессоров. За основу микропроцессорного устройства был взят микроконтроллер АТ89С51 семейства MCS. Устройство осуществляет программным путем тестирование либо управление подключаемого прибора.
В процессе выполнения бакалаврской работы был произведен анализ основных проблем тестирования оборудования. Были рассмотрены основные задачи тестирования компонентов микропроцессорных систем: тестирование центрального процессора, тестирования постоянно запоминающих устройств, тестирование устройств с произвольной выборкой, тестирование устройств ввода - вывода. Был проведен анализ основных методов тестирования микропроцессорных систем: программы самоконтроля, тестирование нагрузками, локализация отказов, дерево поиска неисправностей, эмулирующие устройства, системы проектирования. Были выведены основные требования к разрабатываемому устройству.
На этапе проектирования была построена структурная схема модуля. Были выбраны составляющие микропроцессорного модуля, язык программирования, а также подобраны интерфейсы для связи с подключаемым оборудованием. Был разработан алгоритм работы модуля и выполнен подсчет показателя качества создаваемого устройства.
На этапе реализации модуля тестирования была собрана конструкторско- технологическая документация, описаны процессы компоновки узлов микропроцессорной системы и особенностей программирования. Были описаны способы тестирования и отладки микропроцессорного устройства и создана эксплуатационная документация модуля тестирования электронных устройств.


1.Goor A.J. van de. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice. Gr.Britain, John Wiley & Sons, 1991.
2.Koneman B. // Oral presentation, DFT Workshop, USA, 1986.
3.McCluskey E.J. // IEEE Design & Test of Computers. 1985. Vol. 2, No. 2. P. 21-28.
4.Nicolaidis M. // IEEE Trans. on Computers. 1996. Vol. 45, No. 10. P. 11411155.
5.Nicolaidis M. // Proc. of Int. Test Conf., USA, 1992. P. 598-606/
6.Prince B. High-performance memories: new architecture DRAM's and SRAM's, evolution and function. Gr.Britain, John Wiley & Sons, 1996.
7.Suk D., Reddy S. // IEEE Trans. on Computers. 1981. Vol. C-30, No. 12. P. 982-985.
8.T.W.Williams. // IEEE Trans. CAD. 1988. Vol. 7, No. 1. P. 75-83.
Микроархитектура восьмиядерного универсального микропроцессора «Э льбрус-
8C» / Д. М. Альфонсо, Р. В. Деменко, А. С. Кожин, Е. С. Кожин,
Р. Е. Колычев, В. О. Костенко, Н. Ю. Поляков, Е. В. Смирнова, Д. А. Смирнов, П. А. Смольянов, В. В. Тихорский // Вопросы ради оэлектроники. 2016. № 3. С. 6-14.
9.Yarmolik V., Klimets Yu., Demidenko S., Piuri V. // 7th Int. Symposium on IC Technology Systems and Applications. Singapore, 1997. P. 192-195.
10.Yarmolik V.N., Hellebrand S., Wundelich H.-J. // Proc. of the DATE'99 Conference. 1999. P. 702-707.
11.Yarmolik V.N., Nicolaidis M., Kebichi O. // Proc. of Int. Test Conf., 1994. P. 368-377.
12.Yarmolik V.N., Zankovich A.P., Ivaniuk A.A. // Proc. of Int. Conf. On MixDes. Poland. 2002. P. 545-548.
13.Zankvich A.P., Yarmolik V.N., Sokol B. // Proc. of the CADSM. ПЬите.

2003. P. 226-229.
14.Бычков И. Н. Разработка корпуса многоядерного микропро-



ной платы // Проблемы разработки перспективных микро-
и наноэлектронных систем (МЭС). 2014. № 2. 163-166.
15.Бычков И. Н., Воробьев А. С., Рябцев Ю. С. Разработка

Вопросы радиоэлектроники. 2015. № 3. С. 117-129.


Работу высылаем на протяжении 30 минут после оплаты.



Подобные работы


©2025 Cервис помощи студентам в выполнении работ